Park原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种高精度的分析仪器，用于研究固体材料（包括绝缘体）的表面结构。以下是关于Park原子力显微镜的使用与维护的详细指导：

　　一、使用指导

　　1.启动与初始化

　　打开电箱和光学光源，启动AFM成像软件及CCD相机软件。

　　根据需要调整CCD的大小和位置，开始CCD捕捉。

　　2.样品准备与更换

　　检查样品是否适合在原子力显微镜中使用，避免使用不合适的样品。

　　使用镊子夹取和更换样品，确保样品固定良好，避免在测试过程中产生晃动或摩擦。

　　粉末/液体样品需备注好制样条件，包括分散液、超声时间及配制浓度。

　　测试压电、表面电势的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小需满足要求。

　　3.探头与探针的更换

　　拆卸探头支架，将探头放在交换工具上，进行探针的更换。

　　使用新的探针时，需确保探针固定良好，避免在测试过程中脱落。

　　4.调整与聚焦

　　调整光学系统的Z运动以聚焦在悬臂上，通过旋转翼形螺钉和指螺旋针来调整激光点的位置。

　　将光学器件聚焦在样品上，使用X-Y样品转换器将样品移动到下方。

　　5.测试与扫描

　　设定扫描参数和扫描模式，开始扫描过程。

　　监控扫描进度，并在扫描完成后保存数据。

　　根据需要调整扫描范围、扫描速度和扫描分辨率等参数。

　　6.注意事项

　　避免任何刮擦、撞击或其他对样品的损坏行为。

　　避免任何液体或高温、高压等有害物质被迅速添加到样品中。

　　在测试过程中，注意观察样品的变化和仪器的状态，及时进行处理和调整。
 

　　二、维护指导

　　1.日常清洁

　　定期清理仪器表面和内部，避免灰尘和污垢的积累。

　　使用柔软的布料和适当的清洁剂进行清洁，避免使用腐蚀性或刺激性物品。

　　2.设备校准

　　定期对仪器进行校准，确保测试的准确性和可靠性。

　　校准过程中需遵循仪器的使用手册和校准规程。

　　3.探头与探针的维护

　　定期检查探头和探针的状态，如有损坏或磨损需及时更换。

　　存放探头和探针时，需确保它们处于干燥、清洁的环境中。

　　4.软件与系统的维护

　　定期检查软件的运行状态和系统的更新情况。

　　如发现软件故障或系统异常，需及时联系厂家或专业人员进行维修和处理。

　　5.存储环境

　　设备的正常工作温度应在19°C至25°C之间，相对湿度应保持30%至70%。

　　避免将仪器暴露在恶劣温度、湿度或电磁干扰的环境中。

　　6.专业维护

　　如需进行更深入的维护或维修，请联系Park原子力显微镜的厂家或专业维护人员进行处理。

　　通过遵循上述使用与维护指导，可以确保Park原子力显微镜的稳定运行和长期使用寿命，同时提高测试的准确性和可靠性。