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MDpicts pro高分辨率变温少子寿命测试仪
MDpicts pro高分辨率变温少子寿命测试仪，系统能够适用于各种不同材料和制备阶段的测量，范围从硅原料、裸晶圆到不同的制备阶段，再到HgCdTe、CZT、InSb、HgCdSe、CdTe、GaAs、InP等化合物半导体，可以研究电阻率高于0.3 Ω cm的单晶硅和多晶硅。 参考价面议 -
MDpicts pro原位变温缺陷能级表征系统
MDpicts pro 原位变温缺陷能级表征系统，优点是非接触式，是一种对待测样品无损伤和非破坏式的检测手段，采用微波谐振微波腔来接收信号。由缺陷捕获载流子的再发射引起的光电导率的变化可以通过微波吸收来检测。MDPicts pro已成功用于分析各种具有半绝缘行为的化合物半导体。 参考价面议 -
MD picts温度依赖型寿命测试系统
MD picts温度依赖型寿命测试系统，可检测电阻率高于 0.3 Ω cm的单晶硅与多晶硅，重要聚焦缺陷、少子寿命及光电导的温度依赖型测量，同时可检测硅中的污染物及电活性晶体中的缺陷，具备微波光电导衰减瞬态（μPCD）和稳态（MDP）测量功能。 参考价面议 -
HT picts高温少子寿命测量系统
HT picts高温少子寿命测量系统，用于宽禁带材料在高温区间的非接触、无损伤的温度依赖型测量，涵盖少子寿命、电学特性表征及深能级缺陷研究。（涵盖瞬态模式μPCD、稳态模式MDP、微波光电导等方法，符合SEMI PV9-1110 半导体标准）。 参考价面议 -
XRDmap Pro Wafer Edition自动化晶圆定向检测系统
自动化晶圆定向检测系统在线优化晶圆对准，大幅提升产能。在线式晶圆取向图谱分析，符合晶圆厂标准。 参考价面议 -
Ingot XRD 300 OD/Notch晶锭自动化单晶定向系统
晶锭自动化单晶定向系统重塑晶锭研磨前处理工艺：自动化、高精度、高效率。可使现有设备满足 200 毫米及 300 毫米规格晶锭的高级外径 / 缺口技术标准 。 参考价面议 -
Ingot XRD SiC自动化碳化硅晶锭粘接定向仪
自动化碳化硅晶锭粘接定向仪X 射线管与探测器固定不动，只需单次测量周期，且无需单色仪。单次旋转即可采集全定向测定所需全部数据。 参考价面议 -
原德国EFG x射线光管
原德国EFG x射线光管高质量且耐用的分析X射线管
为X射线衍射仪、晶体定向仪配套使用。本产品的通用性强，可以在国内外多种仪器上替代进口同类产品使用，需复杂调试即可稳定适配，为实验分析提供可靠支持。 参考价面议 -
D8 DISCOVER粉末衍射仪
D8 DISCOVER是旗舰款多功能X射线衍射仪，也称粉末衍射仪，带有诸多前沿技术组件。它专为在环境条件下和非环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。 参考价面议 -
D8 ADVANCE粉末衍射仪
D8 ADVANCE 粉末衍射仪是一种基于X射线衍射原理，用于分析粉末状或多晶材料晶体结构的科学仪器。它通过测量X射线与样品相互作用后产生的衍射图谱，揭示材料的晶体结构、物相组成、晶格参数等关键信息。 参考价面议 -
DPM100双棱镜超宽连续光谱单色仪
DPM100双棱镜超宽连续光谱单色仪的出现，成功打破了传统单色仪在光谱范围和杂散光方面的局限，为光谱学技术的应用带来明显提升。它覆盖0.4-7.3 eV的超宽光谱，可连续测量从红外到深紫外波段，杂散光抑制能力达8个数量级，还具备高分辨率与高效测量的优势。 参考价面议 -
X4 Poseidon新型台式三维X射线显微镜
X4 POSEIDON 是优良的高分辨率三维 X 射线成像系统，它建立在我们久负盛名的 SKYSCAN 1272 和 SKYSCAN 1275 系统的成功基础之上。 参考价面议