IC芯片卡动态弯曲测试机产品用途：用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，柔性电子标签等卡的弯曲和扭曲性能测试。

IC芯片卡动态弯曲测试机本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 符合以上标准。

IC芯片卡动态弯曲测试机技 术 参 数

1. 型号：MX-IC

2. 扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

3. 正反向各15°，总扭曲角度30°

4.測試周期：1~9999次

5.測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

6.长边大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)

7.长边小位移量为2mm±0.50mm

8.短边大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)

9.长边小位移量为1mm±0.50mm

10.電 壓：AC220V±5%

11.外形尺寸：L670 X W380 X H220

12.功 率：35W

13.儀器重量：70kg

标准双向扭转：

长边弯曲工位数：5工位

短边弯曲工位数：5工位

双向扭转工位数：5工位