两探针电阻率测试仪(测锗锭)

SZ-KDY-2型两探针电阻率测试仪是按照我国国家标准及美国材料与试验协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适合于测量模截面尺寸是可测量的，而且棒的长度大于横截面线度的有规则的长棒，例如横断面为圆形、正方形、长方形或梯形的单晶或多晶锭。由于两探针法的测量电流是从长棒两端进出，远离电压测量探针，因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应（如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等），对测量的影响较小，因此两探针法的测量精度一般优于四探针法。特别是对多晶材料的测量，由于多晶晶粒间界处，杂质局部偏析可能导致电阻率较大变化，这种影响对四探针法更为严重，故不推荐用四探针法测量多晶材料的电阻率。
本仪器除适合测量体形有规则的单晶棒外，也适合测量多晶棒。两探针法测量水平区熔多晶锗电阻率，在我国已有四十多年的实践经验，对区熔锗锭横截面面积的变化已总结出一套计算方法，本仪器采用李贺成教授提出的计算公式编写程序，可用微机HQ-710C处理区熔锗锭的测量数据，或采用KDY测量系统软件测量数据，并根据北京有色金属研究总院余怀之教授的提议，扩大了微处理机的数据处理范围。
      本仪器主要由电气测量部份（简称：主机）、测试台及两探针头组成。仪器的特点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全程的电流变化，免除了测量电流/测量电阻率的转换，更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源，使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，更好地保护被测材料。仪器配置了本公司的专li产品：“小游移探针头”，间距为10mm的两探针头探针游移率在0.02～0.05%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机需配用HQ-710C数据处理器或KDY测量系统软件，置入必须的数据后，处理器会配合探头在锗锭上移动测量，自动计算、打印出各点的电阻率、电阻率的最大值、电阻率最小值，给测量带来很大方便。
SZ-KDY-2型两探针电阻率测试仪主机技术参数
（1）测量范围：
 可测电阻率：锗晶体0.1-100Ω·cm
 可测锗锭尺寸：最大长度700mm；最大高度50mm；最大宽度60mm。
（2）恒流源：
 输出电流：DC 0.004-100mA  五档连续可调
 量程：0.004-0.01mA   
          0.04-0.10mA
          0.4-1.0mA 
          4.0-10mA
          40-100mA
恒流精度：各档均优于±0.05%
（3）直流数字电压表：
 测量范围：0-199.99mV
 灵敏度：10μA
 基本误差：±（0.004%读数+0.01%满度）
 输入阻抗：≥1000MΩ
（4）电阻测量误差：≤0.3%
（5）两探针头：KDT-5
 探针间距：10.00±0.02mm  
 游移率：0.02-0.05%          
 探针压力：4±1N/单针
（6）供电电源：
 AC   220V   ±10%   50/60Hz   功率：12W
（7）使用环境：
 温度：23±2℃   相对温度：≤65%
 无较强的电场干扰，无强光直接照射。
（8）重量、体积：
 主机重量：7.5Kg
 体积：390×340×190（单位：mm  长度×宽度×高度）

两探针电阻率测试仪(测细硅芯)

SZ-KDY-2型两探针电阻率测试仪（以下简称两探针仪）是按照我国国家标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。配套测试架适合于测量硅芯电阻率。两探针法的测量精度一般优于四探针法。

整套仪器有如下特点

1、配有双数字表：一块数字表在测量显示电压的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更方便，测量更精确。

数字电压表量程：0—199.99mV  灵敏度：10μV  输入阻抗：1000ΜΩ  基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)

2、可测电阻率范围：0.001—10000Ω·cm。

3、测量电流由高度稳定（万分之几精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响。电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。调节范围从0.001~100mA

4、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。

5、可加配电脑，安装KDY测量系统，实现数据采集、自动换向测量、求平均值，计算、存储并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。

两探针电阻率测试仪(测检磷检硼棒)

SZ-KDY-2型两探针电阻率测试仪（以下简称两探针仪）是按照我国国家标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适合于测量横截面面积均匀的圆型，方型或矩形单晶锭(如硅芯、检磷、硼棒、区熔锗锭等)的电阻率，测样长度与截面最大尺寸之比应不小于3：1。由于两探针法的测量电流是从长棒两端进出，远离电压测量探针，因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应（如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等），对测量的影响较小，测量结果为横截面的平均电阻率，两探针法的测量精度一般优于四探针法。

整套仪器有如下特点:

1、配有双数字表：一块数字表在测量显示电压的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更方便，测量更精确。

数字电压表量程：0—199.99mV  灵敏度：10μV  输入阻抗：1000ΜΩ 基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)

2、可测电阻率范围：0.001—10000Ω·cm。

3、测量电流由高度稳定（万分之几精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响。电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。调节范围从0.001~100mA

4、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。

5、可加配电脑，安装KDY测量系统，实现数据采集、自动换向测量、求平均值，计算、存储并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。