IC磁铁hast加速老化试验箱性能：  

1、测试环境条件4、2、测试方法环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、  

2、温度范围105℃→+132℃、(控制点)  

3、温度波动度±0、5℃、  

4、温度偏差±2、0℃、  

5、湿度范围75%～100%R、H、(控制点)  

6、湿度波动度±2、5%R、H、  

7、湿度均匀度±5、0%、  

8、压力范围0、5～2㎏/㎝2(0、05～0、196MPa)(控制点)  

9、升温时间常温→+132℃35min、  

10、升压时间常压→+2㎏/㎝240min  

hast加速老化试验箱试样限制本试验设备禁止：  

易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存。腐蚀性物质试样的试验或储存。强电磁发射源试样的试验或储存。

IC磁铁hast加速老化试验箱用途：  

适用于国防、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。  

《所发布的各款试验设备价钱仅为象征性的展示,不能作为实际价,实际价钱以艾思荔业务员根据客户的要求所做的报价单为准》