TRIMOS测高仪是用于测量物体的高度和厚度的有利仪器
时间：2023-08-18 阅读：632
在使用TRIMOS测高仪进行测量时，用户首先需要将待测物体放置在测量台上，并调整测量头的位置和角度，使其与物体表面保持平行。然后，启动测量仪器并打开数据处理软件。软件会自动进行校准和设置相应的测量参数，如激光功率、干涉仪灵敏度等。校准完成后，用户可以开始进行测量。测量头发射激光束照射在物体表面，激光束会与物体表面反射或折射产生干涉。干涉信号被测量头接收并传送到主体部分的干涉仪中，干涉仪会对信号进行分析和处理，得出物体的高度和厚度数据。
TRIMOS测高仪具有高精度、快速、非接触式测量等特点。它能够实现微米级别的测量精度，适用于各种形状和材质的物体。同时，由于采用了非接触式测量方式，TRIMOS测高仪不会对被测物体造成损伤或变形，保证了测量结果的准确性。在制造业中广泛应用，可用于测量零件、模具、半导体芯片、光学元件等物体的高度和厚度。它在质量控制和研发中起到了重要作用，能够帮助用户监测产品的尺寸和形状，确保产品质量的稳定性和一致性。