冲击试样缺口投影仪原理
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2648次随着国内工业技术的发展,越来越多的行业对夏比V型U型缺口冲击试验要求越来越高, 日前国内诸如航空、航天、兵器、锅炉压力容器、冶金和机械等行业已普遍采用夏比V型U型缺口冲击试验取代使用了几十年的梅氏U型缺口冲击试验。根据国内广大用户的实际需求和国标GB/T229-2020《金属材料夏比摆锤试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型(深2mm)和U型(深2mm)冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器,是广大冶金、锅炉压力容器、车船和工程机械制造及科研等部门理化实验室的专用设备。也可根据客户的要求定做,满足检测 3mm 或 5mm 冲击试样缺口的需要。
对于夏比V型U型缺口冲击试验,由于试样V型U型缺口要求严格(试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口根部要求R0.25±0.025mm),故在整个试验过程中,试样的V型U型缺口加工是否合格成了关键问题,如果试样缺口的加工质量不合格,那么其试验的结果是不可信的,特别是R0.25mm缺口根部的微小变化(其公差带只有0.025mm),都会引起试验结果的陡跳,尤其是在试验的临界值时会引起产品或报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格,其缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。用数字光学投影放大检查是切实可行并能保证检查质量的方法。TOP-IG型冲击试样缺口投影仪是我公司根据日前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2020《金属材料夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。