IM3523LCR测试仪

IM3523LCR测试仪

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具体成交价以合同协议为准
2018-07-26 10:40:11
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深圳市聚仪精密电子有限公司

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产品简介

IM3523LCR测试仪产品概述

应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。
● 内置比较器和BIN功能
● 2ms的快速测试时间

详细介绍

IM3523LCR测试仪产品概述

 

应用于生产线和自动化测试领域的理想选择

● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。
● 内置比较器和BIN功能
● 2ms的快速测试时间

 

 

IM3523LCR测试仪产品特点

 

LCR测试仪IM3523测量方法:连续测量不同条件

在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。这时,使用1台告诉连续测量不同条件。

LCR测试仪IM3523测量方法:顺畅的进行生产线的设置更改的面板读取功能

为了使用1台LCR测试仪测量多种产品,要求高效率的更改设置。
IM3523的面板保存功能更,最多保存60组测量条件,还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外,可以使用外部控制端口控制面板编号的读取,因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。

可靠的产线检查:接触检查功能

检查4端子测量时样品间的接触不良。
测量LPOTLCUR间和HPOTHCUR间的接触电阻,如果在所设置的阈值以上时则显示错误。

 

 

IM3523LCR测试仪选型指南

 

测量模式

LCR,连续测试

测量参数

Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q

测量量程

100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)

可显示量程

Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
± (0.000000 [单位]* ~9.99999G [单位])(*为zuigao分辩率时的显示位数)
 只有 Z和Y显示真有效值
θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999)
Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%)

基本精度

Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°

测量频率

40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz)

测量信号电平

正常模式
V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms
CC模式: 10μA~50mArms,10μArms

输出阻抗

正常模式:100Ω

显示

单色LCD

测量时间

2ms(1kHz,FAST,代表值)

功能

比较器,分类测量(BIN功能),面板读取/保存、存储功能

接口

EXT I/O(处理器),USB通信(高速)
选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一

电源

100~240V AC,50/60Hz,最大50VA

尺寸及重量

260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg

附件

电源线×1,使用说明书×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1

 

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