应用案例 | 快速、可靠的清洁度分析解决方案
时间：2024-06-14 阅读：269
对于汽车制造商和汽车零部件供应商而言，在整个工作流程中快速、准确、可靠地获得清洁度结果是一项显著优势。对于这种质量控制任务，通常使用来自多个供应商的多台仪器来执行分析。出于这个原因，徕卡显微系统公司和颇尔公司携手努力提供最佳的清洁度分析整体解决方案。客户可以获得徕卡和颇尔的整体解决方案和专家建议，优化并保持产品性能。
汽车、航空航天、电子和制药等行业制造的产品及其组件的性能、寿命和质量可能对污染很敏感[1,2]。产品中的异物可能会造成严重损坏，因此，这些行业通常遵循技术清洁度标准。随着时间的推移，这些清洁度标准的要求会变得更加严格。还有一些例子，比如电动汽车，由于它的零部件来自多个行业，即汽车和电子零部件以及电池等，因此需要多个行业的技术清洁度标准。
根据产品制造商的需求，从颗粒提取到自动颗粒表征和分类，清洁度分析的工作流程可能涉及多种仪器。光学成像方法常用于颗粒表征[1,2]。颗粒的快速化学/元素分析有利于识别污染源[3]。制造商可以利用徕卡显微系统和颇尔公司提供的合作来优化整体清洁工作流程[3]。
零件类型、所需方法
制备方法将取决于零件或组件的类型以及要分析的样本大小。确定特定零件和样品大小所需的解决方案。
图1：图片显示了活塞和曲轴。
搅拌、零件冲洗、超声波、测试台
通过喷涂、冲洗或超声波处理从零件和组件中提取污染物颗粒。然后使用过滤器过滤清洁溶液（过滤器类型取决于清洁的部件），最后对留在膜上的颗粒进行分析。该任务可使用颇尔不同尺寸的洗涤柜和过滤器。将过滤器干燥，然后进行评估。
图2：颇尔的清洗柜，可从组件中提取颗粒。
检测、量化、分类
根据颗粒的大小和类型，即它们造成损害的可能性，对颗粒进行检测、量化和分类。它是通过徕卡清洁度分析解决方案，使用复合或数码显微镜和清洁度软件模块完成的。
图3：用于颗粒分析的徕卡清洁解决方案。
ISO 16232 和 VDA19
查看分析结果并确定是否存在任何潜在的破坏性颗粒。反光金属颗粒具有更高的损坏可能性，徕卡成像解决方案可以自动识别这些金属颗粒。这些具有潜在危险的颗粒会影响组件的使用寿命，甚至导致系统故障。
图4：从组件中提取后，存在于过滤器上的金属颗粒。
应用对策
借助全面清洁度分析的结果，可以逐步优化工作流程。然后可以识别潜在的破坏性颗粒，确定污染源，然后消除破坏性颗粒。目的改进清洁度分析过程，以消除和最大限度地减少污染。
图5：使用清洁软件对过滤器上的颗粒进行分析。
清洁度分析解决方案
例如徕卡显微系统的清洁度分析解决方案包括Emspira 3数码显微镜、DM6 M显微镜、或使用清洁专家分析软件的DM6 M LIBS二合一系统。
参考文献：
1.Y. Holzapfel, J. DeRose, G. Kreck, M. Rochowicz, Cleanliness Analysis in Relation to Particulate Contamination: Microscopy based measurement systems for automated particle analysis, Science Lab (2014) Leica Microsystems.
2.N. Ecke, Basics in Component Cleanliness Analysis, Science Lab (2017) Leica Microsystems.
3.J. DeRose, K. Scheffler, Cleanliness Analysis with a 2-methods-in-1 solution: See the particles and know their composition at the same time, Science Lab (2019) Leica Microsystems.
4.N. Ecke, C. Goasdoué, Cleanliness Workflow from Leica and Pall: Free Webinar On-Demand, Science Lab (2017) Leica Microsystems.