原子力显微镜(Atomic Force Microscopy，AFM)是一种具有原子级别高分辨率的新型表面分析仪器，它不但能像扫描隧道显微镜(STM)那样观察导体和半导体材料的表面现象，而且能用来观察诸如玻璃、陶瓷等非导体表面的微观结构，还可以在气体、水和油中无损伤地直接观察物体，大大地拓展了显微技术在生命科学、物理、化学、材料科学和表面科学等领域中的应用。
 

　　AFM主要由扫描隧道显微镜(STM)发展而来，其基本原理相似。AFM 通过一个微小的针尖与样品表面相互作用，以实现高分辨率的表面成像。针尖与样品之间的相互作用力可以是吸引力或斥力。根据针尖与样品表面之间的距离和作用力的性质，AFM 主要有三种成像模式：接触模式、非接触模式和轻敲模式。
 

　　1.接触模式：针尖与样品表面距离较小，利用原子间的斥力。这种模式可以获得高解析度图像，但可能导致样品变形和针尖受损。接触模式不适合于表面柔软的材料。
 

　　2.非接触模式：针尖距离样品 5-20 纳米，利用原子间的吸引力。这种模式不损伤样品表面，可测试表面柔软样品，但分辨率较低，有误判现象。
 

　　3.轻敲模式：针尖在扫描过程中周期性地接触和离开样品表面，以减少表面损伤和提高成像分辨率。
 

　　AFM的出现，极大地推动了纳米科技的发展。在材料科学领域，科学家利用AFM研究纳米材料的表面形貌、粗糙度、力学性质等，为设计更先进的功能材料提供了宝贵数据。在生物医学领域，AFM成为解析生物分子结构、细胞膜动态变化及细胞间相互作用的重要工具，助力新药研发与疾病诊断。此外，在半导体工业、数据存储技术乃至环境科学等多个领域，AFM都发挥着非常重要的作用。