台式电镜SEM，即扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope)，是利用电子束扫描样品表面，通过收集二次电子、背散射电子等信号来获取样品表面形貌、组成和结构信息的显微分析仪器，具有高分辨率、大景深、立体感强等特点，广泛应用于材料科学、生物学、地质学、冶金学等领域。
 

　　基本工作原理是：电子枪发射出高速电子束，经过电磁透镜系统聚焦成直径为纳米级别的细束；电子束在扫描线圈的作用下按照一定规律扫描样品表面，与样品相互作用产生二次电子、背散射电子等信号；这些信号被探测器收集并转换成电信号，经过放大、处理后形成图像。
 

　　台式电镜SEM的主要作用有以下几点：
 

　　1.表面形貌观察：可以清晰地观察到样品表面的微观形貌，如颗粒形状、大小、分布等。通过调整放大倍数，可以观察到从纳米到毫米级别的形貌特征。这对于研究材料的微观结构、性能以及制备工艺具有重要意义。
 

　　2.成分分析：通常配备有能谱仪(Energy Dispersive Spectrometer，EDS)等附件，可以在观察形貌的同时对样品进行元素分析。通过测量样品发出的X射线能量，可以确定样品中的元素种类及其含量。这对于研究材料的化学成分、相组成以及元素分布具有重要意义。
 

　　3.断面观察：可以对样品的断面进行观察，了解材料的层状结构、晶粒尺寸、缺陷等信息。这对于研究材料的断裂机制、界面特性以及生长过程具有重要意义。
 

　　4.表面粗糙度测量：可以通过对样品表面的高度信息进行测量，得到表面粗糙度的定量数据。这对于评价材料的摩擦性能、粘附性能以及涂层质量具有重要意义。
 

　　5.三维重构：通过对图像进行处理，可以重建出样品的三维形貌，进一步了解材料的微观结构。这对于研究复杂体系的微观结构、动态过程以及功能特性具有重要意义。
 

　　6、纳米尺度研究：具有较高的分辨率，可以实现纳米尺度的观察。这对于研究纳米材料、纳米器件以及纳米技术的发展具有重要意义。