离子迁移测试仪的工作原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压, 设定一段时间的测试（(1 ~ 1,000 小时)）, 并观察线路是否有瞬间短路的现象, 采用独立的电源供应及个别电流电压量测系统, 并透过计算机分析及记录电阻值变化状况. 对个别频道设定不同测试电压, 采集测试品在不同的环境条件下产生劣化之数据。

  金合博源提供的离子迁移测试仪可有效监测离子迁移弓|致表面绝缘阻抗(SIR) 变化以及生产PCB内层阳极导电丝(CAF现象)。广泛应用于成品寿命可靠度，材料和制程特性研究。