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检测管道中的内壁减少情况。
局部墙壁减少并不总是由腐蚀引起。在板材轧制期间或在管材制造过程中形成的初始阶段可以产生壁减少。钢中的印模可以通过成形辊产生。施加到成形辊的高表面压力和热量会引起剥落。剥落并从辊子上脱离的金属片可落入进入板的路径中，使得片件粘合到辊子上。一旦碎片与辊子结合，就会在被轧制的板材中开始出现印痕。因此，由辊引起的印模的术语伪影看起来类似于由腐蚀引起的壁减少。
在许多情况下，新管道将投入使用此类工件。当管道运行后再进行腐蚀检查时，检查人员可能会发现这些墙壁减少伪影并将其误认为是腐蚀单元。如果发生这种情况，工艺工程师可能会推断出不正确的腐蚀速率并导致不正确的工艺变化和/或化学添加 然而，简单的超声测量程序可以在制造或安装阶段识别伪影。
型号38DLP PLUS厚度计，或带波形显示选件的45MG型应变计，以及D790双元件传感器（5 MHz）。
下图中的管道是采用ERW工艺制造的8“x .250”壁碳钢1018等级。深色凹痕是减少在管道形成过程中发生的壁厚的伪影。ID或OD上没有腐蚀。
厚度测量以与腐蚀测量相同的方式进行。在左图中，量具读取全壁厚度。在右图中，较薄的读数表示内表面上的壁变薄伪影。
在试图区分制造工件和腐蚀电池时，检查员可能会考虑以下因素：
可以通过超声波厚度测量来检测管道中的制造伪影。执行管道厚度测量的检查员应了解这种损坏机制。向过程工厂质量控制检查员通知该潜在问题以避免过高估计腐蚀速率也很重要。
手持式45MG是一款配置有各种测量功能和软件选项的超声测厚仪。这款仪器与所有双晶和单晶探头探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的仪器，可用于几乎所有测厚应用。
38DL PLUS是一款高级超声测厚仪。这款仪器可使用双晶探头对内部腐蚀的部件进行检测。其性能包含THRU-COAT®（穿透涂层）和回波到回波。还可以使用单晶探头对薄材料、极厚材料以及多层材料进行的厚度测量。
| 测量 | 双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后延迟到*个回波之间的时间间隔。 |
|---|---|---|
| 自动回波到回波（可选） | 在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。 | |
| 穿透涂层测量 （可选） | 利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度（使用D7906-SM和D7906探头） | |
| 单晶探头测量模式（可选） | 模式1：激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔。 模式2：延迟块回波与*个底面回波之间的时间间隔（使用延迟块或水浸式探头） 模式3：在激励脉冲之后，位于*个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟块探头或水浸式探头）。 | |
| 厚度范围 | 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定（要测量较全的范围需要使用单晶选项） | |
| 材料声速范围 | 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） | |
| 分辨率（可选择） | 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 标准分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 单晶选项：0.001毫米（0.0001英寸） | |
| 探头频率范围 | 标准：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（单晶选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） | |
| 一般规格 | 操作温度范围 | -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） |
| 键盘 | 密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈 | |
| 机壳 | 防撞击、防水、装有密封垫的机壳，机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。 | |
| 外型尺寸（宽 x 高 x 厚） | 总体尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm | |
| 重量 | 430.9克 | |
| 电源 | 3节AA电池/USB电源供应 | |
| 电池工作时间 | 3节AA碱性电池：20到21小时 3节AA镍氢电池：22到23小时 3节AA锂离子电池：35到36小时 | |
| 标准 | 设计符合EN15317标准 | |
| 显示 | 彩色透反QVGA显示 | 液晶显示，显示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 |
| 检波 | 全波、RF波、正半波、负半波（波形选项） | |
| 输入/输出 | USB | 2.0从接口 |
| 存储卡 | 最大容量：2 GB可插拔microSD存储卡 | |
| 内置数据记录器（可选） | 数据记录器 | 45MG通过USB或microSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。 |
| 容量 | 475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形 | |
| 文件名称和ID编码 | 32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码 | |
| 文件结构 | 6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构 | |
| 报告 | 机载报告总结了数据统计和最小值/最大值 |
标准配置
软件选项
选购附件
回波到回波
测厚仪使用多个底面回波，显示不计涂层厚度的实际金属厚度：
穿透涂层技术
| 使用单个底面回波测量金属的实际厚度。使用这个技术可以分别显示金属和涂层的厚度。这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，要得到金属的厚度，无需去掉表面的漆层和涂层。穿透涂层测量技术使用D7906-SM、D7906-RM和D7908双晶探头。 |  |
显示A扫描的自动回波到回波模式
显示涂层厚度和钢材料厚度的穿透涂层模式（波形选项未被激活）
调整*个回波空白的手动回波到回波模式
显示可选波形的穿透涂层模式
用户使用单晶软件选项，可以完成分辨率高达0.001毫米或0.0001英寸的厚度测量。可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。
用户使用这个选项可在使用低频单晶探头（低到0.5 MHz）的情况下，测量橡胶、纤维玻璃、铸件及复合材料等较厚或声波衰减性较强的材料。这个选项包含单晶选项。
45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。数据记录器选项包含GageView接口程序。
数据记录器选项
在PC机上可以看到以栅格形式出现的数据通过不同颜色清晰地标明超出容差的厚度情况。
可以方便地生成并打印包含测量值、ID编码及其它参数的测量报告。
机载DB栅格视图，使用3种可编辑的颜色
GageView接口程序
在PC机上可以看到以栅格形式出现的数据通过不同颜色清晰地标明超出容差的厚度情况。
用户使用这个可选实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和空白设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中最大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、个回波空白、范围及延迟参数。
