日本KETT膜厚计LE-373涂层测厚仪LZ-373_超声波测厚仪器-上海遂欧仪器有限公司手机版

产品简介

日本KETT膜厚计LE-373涂层测厚仪LZ-373，LZ-990 LE-373 LH-373 LZ-373 LE-200J LH-200J LZ-200J仪器采用电磁式和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）。

详细介绍

日本KETT膜厚计LE-373涂层测厚仪LZ-373

本仪器采用电磁式和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）。

型号	LE-373
测定方法	电磁式
测定对象	磁性金属基体上的非磁性涂镀层
测定范围	0-2500µm
测定精度	<50µm±1µm , 50µm-1000µm±2% , 1000µm-2000µm±3%
分辨率	<100µm为0.1µm , >100µm为1µm
记忆数据	大约3000个
附加功能	1.程序选择 2.基体修正 3.数据删除 4.数据统计 5.设定上下限6.数据统计（测定次数最大值最小值标准偏差） 7.语言选择（中、英、日、韩）8.日期时间 9.自动关机设定 10.背景灯光选择 11.背景灯光的时间设定 12.单位 13.数据输出
测头	点触式（LEP-J)
显示方式	数字LCD显示（背光灯可自行选择开关）
数据输出	电脑输出（USB或者RS-232C)或者连接打印机
电源	4节1.5V碱性电池
存储通道	有50个通道可供选择
尺寸重量	75（W）×145（D）×31（H）mm ， 0.34Kg
标准配置	基体 / 标准片 / 4节碱性电池 / 测头 / 皮套
可选配置	数据管理软件（LDL-03) / 不同厚度的标准片 / 打印机VZ-330

日本KETT膜厚计LE-373涂层测厚仪LZ-373