全新上照式设计，微聚焦，搭载可编程自动位移平台，无人值守、自动检测多样品，且更加智能化，采用自主研发的AI影像识别功能可完成智能寻点，自动匹配测试。对各超大异形件及微小密集型多点的测试更加高效、智能。

XTD-200是一款全自动型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪，全新上照式设计，微聚焦，搭载可编程自动位移平台，无人值守、自动检测多样品，且更加智能化，采用自主研发的AI影像识别功能可完成智能寻点，自动匹配测试。对各超大异形件及微小密集型多点的测试更加高效、智能。