T-450采用高精度X射线荧光(HDXRF)技术，通过采用*单色和聚焦光学器件双曲面弯晶光学晶体(DCC),将设备信噪比大幅提高，使得与传统能量色散X射线荧光技术(EDXRF)相比的检测精度大大提升。图1显示了HDXRF技术设备基本结构，双曲面弯晶光学晶体(DCC)将来自射线源的多色光转入高能单色光并有效聚焦到测量样品上，样品经聚焦后的高能单色光束激发后其中的重金属元素发射出各自的特征X射线荧光信号，高分辨率SDD半导体检测器对信号进行收集与处理，最后由软件FP算法计算得出样品中所含元素含量。

表4.检出限(单位：mg/kg)

元素

镉(cd)

铅(Pb)

砷(As)

检出限

0.015

0.025

0.025

规格

T-450

合规性

GB2762-2017

测量方法

高精度X射线荧光光谱法-HDXRF

X射线管

50kV,1mA

探测器

Fast SDD探测器

光学系统

双曲面弯晶晶体-DCC

测量时间

30s-1200s可选

测量范围

分析元素：Cd,Ni, Cu, Zn,As,Pb等

工作温度

-5℃~50℃

镉的合规检测

T-450基于HDXRF@技术，可快速准确定量分析食物、粮食中镉等重金属元素，

检测性能可以满足中国食品安全国家标准要求-检出限轻松应对大米中镉元素的法规限值0.2mg/kg。

此外，T-450亦可对大米中的砷进行初步筛选定性分析。

快速扫描

T-450重量轻体积小，方便携带，操作简单，无需复杂的样品制备步骤，

轻松实现工作现场快速准确扫描分析的需要，其结果如表2所示。

1、两分钟快速扫描；

2、快速区分超标，合格，灰色地带样品；

仪器特点

1、不需要化学消解，测试速度快；

2、元素检出限低，符合GB2762-2017;

3、分析模式：定性扫描分析模式、定量分析模式。

准确性和重复性

选取一定数量大米标准样品，对其中的Cd镉元素进行直接分析，

通过分析其测量值与标准值的相对误差来考察仪器的测试准确性。

表3数据表明HDXRF在高低镉含量检测均可提供精确、稳定的结果，

0.2和0.1mg/kg样品的分析误差通常小于10%。