在线薄膜杂质缺陷检测系统在薄膜生产过程中的应用
时间：2021-05-06 阅读：377
检测系统包括计算机、照相系统、图像处理系统及缺陷检测分级软件等
硬件系统：
高速线扫描摄像机
专业线光源
像素加速器及记忆棒
软件系统：
操作系统
薄膜图像处理缺陷分级软件软件
主要技术参数：
在线扫描照相机 | 功能部件: CCD在线扫描照相机 传感器：4096像素,传感器尺寸 40.96mm×10μm 像素尺寸：10µm×10μm 动态速率范围：最大1200:1 像素频率：最大160MHz 线频率：36KHz 尼康镜头 检测宽度120 mm 分辨率25μm 线性扫描速度：25m/min( 约400mm/s) 过程速度约32000 lines per 4096像素/s 操作温度10℃～50 ℃ |
照明系统
| LED 3线（超高亮度/高聚光）亮度可调，灯长250mm 薄膜检测系统可以自动调节曝光时间。测试系统可根据薄 膜的透明度自动调节灯的亮度。同时照明灯的亮度也可以 通过软件手动设置。 |
测试范围 | ±2,5 mm (漫反射: ±2,0 mm) |
光源 | 可见光半导体激光(波长: 650 nm, 1 mW max., Class 2) |
光束形状 | 线形光束 |
光束直径 | 2.000 x 35μm |
线性度 | 测量刻度的±1 % |
分辨率 | 0.4 μm |
温度特性 | 0.02 % 测量刻度/℃ |
取样周期 | 最少110μs，标准：500μs |
测试角 | 45º |
标准 | ASTM D 2457 |
雾度测试范围 | 0～2000GU（GU＝Gloss units） |
重复性 | 0～199.9GU : 0.1 GU，200～2000 GU：0.1％ |
再现性 | 0～199.9GU : 0.5GU，200～2000 GU：0.4％ |
测试传感器 | 适用于V形 |
光源 | 白光， LED |
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