数字式电阻率测试仪 号：M-2

 运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量 
 是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量。 
仪器由主机，测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果用数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，定位准确，游移率较小，寿命长。 
仪器于半导体材料厂，半导体器件厂，科研单位，高等院校对半导体材料的电阻性能的测试。特别于要求快速测量中低电阻率的场合. 
 工作条件为： 
温度： 
相对湿度： 60% ~ 70% 
工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源 
  
数字式电阻率测试仪 技术参数 
1. 测量范围： 
电阻率：10 -2  ~ 102Ω-cm 
方块电阻：10 -1  ~ 103Ω/□ 
电阻：10 -3  ~ 9999Ω 
2. 可测半导体材料尺寸 
直径：15mm-100mm 
长（或高）度：≤400mm 
3. 测量方位： 
轴向，径向均可 
4. 数字电压表 
量程：2V 
误差: ：± 0.1% FSB ± 2LSB 
大分辨力：10μA 
精度： 18位ADC ( 5 1/2 位) 
显示：4位数字显示，小数点自动显示 
5. 数控恒流源 
电流输出： 直流电流 2μA~ 2mA, 2μA步进可调，系统自动调整。 
误差：± 0.1% FSB ± 0.5LSB  
6. 四探针测试探头： 
探针间距： 1mm 
探针机械游移率：± 1% 
探针：碳化钨，直径0.5mm 
7.电源： 
DC 4.5V ~8V 
功耗： < 1W 
电源适配器：输入： 220V±10% 50Hz 
输出：DC5V ± 10% 
8. 外形尺寸： 
主机： 170mm (长) X 130mm (宽) X50mm(高) 

产品名称：红外线快速水分测定仪 速水分测定仪 外快速水份仪  产品型号：SFY-20 红外线快速水分测定仪 速水分测定仪 外快速水份仪 型号：FY-20  产品特点：  1、体积小、重量轻  2、检测速度快  3、全自动模式，确保测试准确  4、操作简单、显示各种数据  5、用途广泛  6、具有与计算机、打印机连接功能  产品介绍：  SFY系列红外线快速水分测定仪，采用热解重量原理设计，是一种快速的水分检测仪器。水分测定仪在测量样品重量的同时，红外加热单元和水分蒸发通道快速干燥样品，在干燥过程中，水分仪持续测量并即时显示样品丢失的水分含量%，干燥程序完成后，测定的水分含量值被锁定显示。与烘箱加热法相比，红外加热可以短时间内达到大加热功率，在高温下样品快速被干燥，其检测结果与国标烘箱法具有良好的*性,具有可替代性,且检测效率远远高于烘箱法。一般样品只需几分钟即可完成测定。且操作简单，测试准确，显示部分采用红色数码管，分别可显示水分值、样品初值、终值、测定时间、温度初值、值等数据，清晰可见。并具有与计算机，打印机连接功能。该水分仪可广泛应用于一切需要快速测定水分的行业，如塑胶、橡胶、化工、医药、食品、等行业中的生产过与实验过程中。  技术指标：  1、称重范围： 0-90g  2、水分测定范围：0.01-100%  3、称重读数：0.001g   4、样品质量： 0.5-90g   5、加热温度范围： 起始-205℃   6、水分含量可读性： 0.01%   7、显示参数： 7种   8、通讯接口： RS 232   9、外型尺寸： 380×205×325(mm)   10、电源： 220V±10%   11、频率： 50Hz±1Hz   12、净重： 3.7Kg