介电常数介质损耗测试仪测试方法与步骤
时间：2021-06-18 阅读：1872
介质损耗测试方法与步骤：
1. 分布容量的测量
a) 选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端；
b) 将调谐电容器调到大值附近500P左右，令这个电容是C1，
c) 按下仪器面板的频率搜索键，使测试回路谐振，谐振时Q的读数为Q1；
d) 将测试夹具接在“Cx”两端，放入材料，测出材料厚度后取出材料，调节主调电容，使测试电路重新谐振，此时可变电容器值为C2，Q值读数为Q2。
机构电容的有效电容为：Cz= C1－C2
分布电容为机构电容CZ和电感分布电容C0（参考电感的技术说明）的和电容器损耗角正切为公式里的C0只是电感的分布电容值，不是主机软件显示的C0
2. 把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。
3. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈
4. 被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平直。
5. 调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。再松开两片极片，把被测样品夹入两片极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，到的平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2，改变主机上的主调电容容量，使主机处于谐振点（Q值大值）上，然后按一次 主机上的小数点（tgδ）键，在显示屏上原电感显示位置上将显示C0= x x x，记住厚度D2的值。
6. 取出S916测试夹具中的样品，（保持S916测试夹具的平板电容极片之间距不变）这时主机又失去谐振（Q值变小），再改变主机上的主调电容容量，使主机重新处于谐振点（Q值大值）上。
7. 第二次按下 主机上的小数点（tgδ）键，显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1，同时显示介质损耗系数tn =．x x x x x ，即完成测试。
8. 出错提示，当出现tn = NO 显示时，说明测试时出现了差错，发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。