如果我们要测试一个固定输出 20V，最大电流 5A，功率 100W 的直流电源，那我们就必须使用一台电压、电流及功率与之相当，甚至更大的电子负载来吸收来自电源的功率。因为电源是一个恒定电压输出 20V 的恒压 CV 源，测试时电子负载就需要工作在恒流 CC 模式，并设定其电流从 0A 至 5A 之间。当然，如果是其他类型的恒流 CC 直流电源，电子负载就需要工作在恒压 CV 模式，还有一些情况需要电子负载工作在 CR 或者 CP 模式。

通常如果被测的直流电源的功率较大，而单个的电子负载没有足够的功率，我们可能会希望将多个电子负载进行串联或并联来扩展电子负载的功率。如果是电流不  够，我们可以通过将多台电子负载并联起来，但如果电压不够，是否也可以使用几台电子负载进行串联呢？

如果你这样做，估计你不但不能够实现你的测试目的，更可能得到的结局是损坏电子负载。

接下来我们就一起分析这是为什么？当然，我们必须事先了解电子负载是如何工作的，这个在之前的博客文章中有介绍。电子负载是通过控制和调整跨接在其输入端的FET 功率场效应管 RDS，似乎将多台电子负载串联应该没有什么大问题。如图 2 所示，假如我们将两台串联的电子负载都设置为 CC 模式，而且设置为*相同的电流值，譬如都设置为 10.00A。但实际上电子负载不可能是绝对的 10.00A，如果其中一

台实际为 9.99A，而另外一台为 10.01A。这样一来，电子负载 2 就不可能达到其设置值，因此，它就不停的减小 FET 的 RDS 直到 0（短路），这样所有的电压就全部加载到电子负载 1 上使得它过压损坏。

也有人建议两台电子负载分别工作于恒流 CC 模式和恒压 CV 模式，而且这似乎可以实现设定电压、电流点的工作状态。但是如何让这两台电子负载进入到设定的 CC 及 CV 工作点？

假设我们先设定好电子负载，然后再将负载连接到被测电源，设定于 CC 模式的电子负载因为没有任何电流，因此将 FET 的RDS  设置为 0（短路）；而设定于 CV 模式的电子负载因为没有任何电压，将 FET 的 RDS 设置为+∞

（开路）。所以在电源接入的瞬间，电源上的所有电压 100V 都加载到 CV 模式的负载上，就可能损坏。

有一种折中的方法，通过调节直流电源的上电电压斜率，让被测的电源慢慢的抬升其输出电压（需要被测电源具备这样的能力），这样有可能让这两台串联的电子负载进入设定的工作点。

即使这样，如果在工作过程中出现任何异常，触发电子负载的保护，两台电子负载分别会进入短路或开路的情况，依然会导致电源的电压 100V 加载到电子负载输入端的情况，损坏电子负载。

通过以上分析，我相信你已经非常清楚为什么我们不推荐多台电子负载进行串联实现更高电压测试！