半导体参数测试系统的应用及对应优势
时间：2024-07-10 阅读：328
产品应用：
新型材料与器件测试
半导体器件可靠性测试
半导体器件超短脉冲测试
半导体器件无损探伤与测试
光电器件和微电子机械系统测试
半导体器件超低频噪声领域测试
产品优势：
一体化设备：
单机可采集高精度IV、CV、脉冲IV和瞬态IV采样及1/f噪声测试所有参数。
无需切换电缆或探头连接即可提供完整的低频参数提取功能。
宽电压电流输出范围、高精度：
支持高速采样时域信号采集和任意线性波形生成模块化架构。
支持灵活、可扩展的测试配置。
简单易用：
内置专业LabExpress软件，用户界面友好。
测量、分析功能强大。
无需复杂编程步骤即可同步产生电压并跟踪波形。
可用作9812DX内部SMU模块：
无缝集成9812D/DX系统及其NoiseProPlus软件，可提高噪声测试速度。