API/Amber Precision Instruments 品牌
代理商厂商性质
深圳市所在地
SmartScan 350-EMC系统包含EMI和ESD扫描功能，其他扫描技术作为选配提供。
硬件：
硬件通用于API所有XY平面扫描技术。
API设计和制造的硬件部件有：探头、TLP（传输线脉冲发生器）、Failure Detection Module（FD，自动故障检测模块）等。
Items | Descriptions |
尺寸 | 26"x23.6"x30" (66cmX60cmX76cm) |
重量 | 35kg |
主要器件 | 机械臂和控制器 机械臂底座–表面阳极电镀过的铝合金 扫描板-27"x25"and3/4" （68.6cmX63.5cmX1.9cm）厚的石木板(纸和树脂，无金属) 梳妆波发生器 (10MHz~2.5GHz) 摄像头和探头 接触传感器 EMI用线缆或ESD用高压线 探头: EMI基础探头 Hx-2mm (up to 9GHz) Hx-5mm (up to 4GHz) Hz-4mm (up to 4GHz) ESD基础探头 Hx-2mm Hx-5mm Hz-8mm Ez-8mm CSP基础探头-Hx-2mm 控制电脑 |
EMI仅有的 | RF放大器，安装支架和直流电源线 |
ESD仅有的 | TLP-+/-200V~+/- 8,000V，< 350pSec rise time 自动故障检测模块(自选项) – 4个模拟、4个数字和1个光学传感器信号监控能力 |
机械臂 | Epson LS3 (或同等级别) 400mm臂长，四轴SCARA robot (x-、 y- 、z-和z轴旋转) 30um机械臂准确性 更长的机械臂可供选择(比如550mm) 机械臂只有极少到无的RF干扰 |
扫描板 | 放置DUT的扫描版由不会电反射的材料制成（非金属） |
集成梳妆波发生器 | 10MHz间隔，最高2.5GHz 用于自动电子X-Y偏移校正 时域相位测量的系统因子提取源 验证系统的独立源 可用作培训的DUT |
集成摄像头 | 摄像头 镜头 拍摄DUT图片，自动将测量数据叠加在DUT图片上 在DUT图片上设置扫描区域 |
接触传感器 | 测量探头着陆位置处DUT或DUT上元件的高度 支持沿DUT元件轮廓的高度进行扫描 |
伸缩式的Z方向移动 | 伸缩式的防撞设计，探头接触到DUT表面后，机械手臂仅施加探头重量 |
RF放大器 (仅EMI) | 易装易卸的RF放大器支架 两个常用RF放大器- ZX60-6013E+ (20MHz~6GHz, 15dB gain at 1GHz)串联 可以选配不同放大器（价格不同）。联系我们了解更多信息 |
线缆 | 散发型 120" coax with SMA and N connectors 16" and 28" coax with SMA at both ends 注入型 120" coax with SMA and SHV connectors 28" coax with SMA at both ends |
用于ESD扫描的设备
ESD扫描需要两种特定设备：TLP（传输线脉冲发生器）和FD模块（自动故障检测模块）
TLP (Transmission Line Pulser) | 输出电压（负载开路时） +/-200V~+/- 8,000V 独立的+ve和-ve电源 波形 快速上升时间（< 350皮秒）、5纳秒稳定时间和慢速下降时间（>10纳秒），以防止故障发生在上升或下降时 高压输出端 前后侧输出端口 40dB衰减输出端口作为CS（current spreading）扫描的触发源 模式控制 单次，连发，远程 脉冲率 1~26每秒 |
自动故障检测模块 (FD Module) | 信号监控能力 四个模拟信号 四个数字信号 两个光学传感器输出 信号采样率高达250kHz 两个继电器用于控制DUT电源循环 脚本定义自动故障检测、DUT电源循环、和数据记录 |
软件
API自行开发软件
API开发的软件：SmartScan，灵活性高、用户友好且非常可靠
多种扫描技术 | 在同一硬件和软件平台上集成多种扫描技术 抗扰（Immunity）扫描技术： - Electro-static Discharge (ESD) 静电放电测试 - RF immunity (RFI) RF抗扰测试 - Current spreading scan (CSP) 电流分布测试 - Resonance scan (RES) 共振测试 放射（Emission）扫描技术： - Electro-magnetic Interference (EMI)电磁干扰测试 - Field calculation场的转换 - Phase measurement (PMS)相位测量--宽频，自动化的 - NF to FF transformation (NFFF) 近远场转换 - Emission Source Microscopy (ESM)放射源显微镜术 |
扫描区域编辑器 Scan area editor (SAE) | 用集成摄像头拍摄DUT的照片，并将其自动导入到SmartScan中以定义扫描区域 定义扫描区域方式： 1) 在摄像头拍摄的DUT照片上方定义 2) 在导入的DUT照片上定义 3) 在导入的layout files (ODB++)上定义 扫描区域可定义为多种形状：点、线、矩形等，或沿轮廓。可以在同一个项目里定义不同的扫描区域和扫描高度 可以灵活拖曳扫描区域 扫描区域调整 可以通过抓住角点或整条边界线对初定义的扫描区域进行微调 可以通过剪切某些点或区域来跳过某些点的扫描 扫描步进可由数列定义或点之间的距离定义 多张照片拼接——当DUT太大而无法在一张照片中全部体现时，软件会拍摄多张照片并将它们拼接在一起生成完整的DUT图片 PCB布局导入——可在导入的PCB layout文件（ODB++）上定义扫描区域，扫描结果会叠加显示在layout上 |
场分量 | 可选X方向扫描（0°）、Y方向（90°）扫描或两者都扫 任何用户定义的角度扫描，比如30°或40° |
仪器设置 | 仪器（SA，VNA，示波器，信号发生器或TLP）的关键参数都可在SmartScan v5中设置 也可以直接在仪器上设置好参数之后，让SmartScan读取 |
扫描设置导向 | 指导用户逐步完成扫描设置，以避免犯错误或遗漏步骤 除非定义了每个必要的步骤，否则软件不允许启动扫描 |
元件库 | 硬件元件（放大器、线缆、探头等）的S21数据都被储存在元件库。这些数据可以对测量值进行损耗或增益校正 可用S21数据快速计算系统因子 每个探头的频率响应都储存在元件库 |
数据处理 (或后处理) | 可对扫描数据使用公式，如三角函数、指数函数、对数等常见数学公式进行运算 系统因子用于场的计算。把仪器测到的值在电中心高度（in dBm）转换成场值 可合并两或三个场分量 原始数据以txt格式被导出以进行下一步分析 |
数据可视化 | 测量值叠在DUT图片上 点——每个测量点的颜色根据测量值变化 面——在点之间进行插值运算以显示测量值的平滑过渡和分布 3D图 峰值搜索 追踪点 透明度调整，可查看测量数据下方的DUT图片 |
图形工具 | 多个项目的绘图可以在一个图形窗口中显示 每个图可以被分别打开和关闭 |
SmartScan 350-EMC探头
API从设计、制作以及测试探头都在API实验室完成。
API拥有超过100种不同的探头设计，其中25种探头作为标准探头搭配系统使用。
可提供探头定制服务，详情咨询API。
以下探头信息主要针对辐射测量探头(EMI 探头)
场分量 | 探头测量所有6个分量：Hx、Hy、Hz、Ex、Ey和Ez |
频率范围 | 覆盖50kHz到40+GHz 测量能力可至50kHz以下 |
探头特性描述 | 探头的特性测试在常用的、实际的扫描条件下进行 想测的场分量和不需要测的场分量有最少20dB的差别 列出详细的特性测试步骤和测试条件，以便用户能重现测试结果 完整的探头特性报告 对于某些高频探头，小于20dB的差别是可接受的 |
