API/Amber Precision Instruments 品牌
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SmartScan 350-EMC
SmartScan 350-EMC系统包含EMI和ESD扫描功能。其他扫描技术作为选配提供。
I. 硬件
· 硬件通用于API所有XY平面扫描技术
· API设计和制造的硬件部件有:探头、TLP(传输线脉冲发生器)、Failure Detection Module(FD,自动故障检测模块)等。
Items | Descriptions |
尺寸 | · 26" x 23.6" x 30" (66 cm X 60 cm X 76 cm) |
重量 | · 35 kg |
主要器件
| · 机械臂和控制器 · 机械臂底座 – 表面阳极电镀过的铝合金 · 扫描板 - 27" x 25" and 3/4" (68.6 cm X 63.5 cm X 1.9 cm)厚的石木板(纸和树脂,无金属) · 梳妆波发生器 (10 MHz ~ 2.5 GHz) · 摄像头和探头 · 接触传感器 · EMI用线缆或ESD用高压线 · 探头: o EMI 基础探头 - Hx-2mm (up to 9 GHz) Hx-5mm (up to 4 GHz) Hz-4mm (up to 4 GHz) o ESD 基础探头 - Hx-2mm Hx-5mm Hz-8mm Ez-8mm o CSP基础探头 - Hx-2mm · 控制电脑 |
EMI仅有的 | · RF 放大器, 安装支架和直流电源线 |
ESD仅有的 | · TLP - +/- 200 V ~ +/- 8,000 V, < 350 pSec rise time · 自动故障检测模块(自选项) – 4个模拟、4个数字和1个光学传感器信号监控能力 |
机械臂 | · Epson LS3 (或同等级别) o 400mm臂长, 四轴SCARA robot (x-、 y- 、z-和z轴旋转) o 30 um 机械臂准确性 o 更长的机械臂可供选择(比如550mm) · 机械臂只有极少到无的RF干扰 |
扫描板 | · 放置DUT的扫描版由不会电反射的材料制成(非金属) |
集成梳妆波发生器 | · 10 MHz间隔,最高2.5 GHz · 用于自动电子X-Y偏移校正 · 时域相位测量的系统因子提取源 · 验证系统的独立源 · 可用作培训的DUT |
集成摄像头 | · 摄像头 · 镜头 · 拍摄DUT图片,自动将测量数据叠加在DUT图片上 · 在DUT图片上设置扫描区域 |
接触传感器 | · 测量探头着陆位置处DUT或DUT上元件的高度 · 支持沿DUT元件轮廓的高度进行扫描 |
伸缩式的Z方向移动 | · 伸缩式的防撞设计,探头接触到DUT表面后,机械手臂仅施加探头重量 |
RF 放大器 (仅EMI) | · 易装易卸的RF放大器支架 · 两个常用RF放大器- ZX60-6013E+ (20 MHz ~ 6 GHz, 15 dB gain at 1 GHz)串联 · 可以选配不同放大器(价格不同)。联系我们了解更多信息 |
线缆 | · 散发型- 120" coax with SMA and N connectors 16" and 28" coax with SMA at both ends · 注入型- 120" coax with SMA and SHV connectors 28" coax with SMA at both ends |
II. 用于ESD扫描的设备
· ESD扫描需要两种特定设备:TLP(传输线脉冲发生器)和FD模块(自动故障检测模块)
TLP (Transmission Line Pulser) | · 输出电压(负载开路时) o +/- 200 V ~ +/- 8,000V o 独立的+ve 和 -ve 电源
· 波形 o 快速上升时间(< 350 皮秒)、5 纳秒稳定时间和慢速下降时间(> 10 纳秒),以防止故障发生在上升或下降时
· 高压输出端 o 前后侧输出端口 o 40 dB衰减输出端口作为CS(current spreading)扫描的触发源
· 模式控制 o 单次, 连发, 远程 · 脉冲率 o 1 ~ 26 每秒 |
自动故障检测模块 (FD Module) | · 信号监控能力 o 四个模拟信号 o 四个数字信号 o 两个光学传感器输出
· 信号采样率高达250 kHz · 两个继电器用于控制DUT电源循环 · 脚本定义自动故障检测、DUT 电源循环、和数据记录 |
III. 软件
· API 自行开发软件
· API开发的软件:SmartScan,灵活性高、用户友好且非常可靠
多种扫描技术 | · 在同一硬件和软件平台上集成多种扫描技术 o 抗扰(Immunity)扫描技术: - Electro-static Discharge (ESD) 静电放电测试 - RF immunity (RFI) RF抗扰测试 - Current spreading scan (CSP) 电流分布测试 - Resonance scan (RES) 共振测试
o 放射(Emission)扫描技术: - Electro-magnetic Interference (EMI)电磁干扰测试 - Field calculation 场的转换 - Phase measurement (PMS)相位测量--宽频, 自动化的 - NF to FF transformation (NFFF) 近远场转换 - Emission Source Microscopy (ESM)放射源显微镜术 |
扫描区域编辑器 Scan area editor (SAE) | · 用集成摄像头拍摄 DUT 的照片,并将其自动导入到 SmartScan中以定义扫描区域 · 定义扫描区域方式: 1) 在摄像头拍摄的DUT照片上方定义 2) 在导入的DUT照片上定义 3) 在导入的layout files (ODB++)上定义 · 扫描区域可定义为多种形状:点、线、矩形等,或沿轮廓。可以在同一个项目里定义不同的扫描区域和扫描高度 · 可以灵活拖曳扫描区域 · 扫描区域调整 o 可以通过抓住角点或整条边界线对初定义的扫描区域进行微调 o 可以通过剪切某些点或区域来跳过某些点的扫描 · 扫描步进可由数列定义或点之间的距离定义 · 多张照片拼接——当DUT太大而无法在一张照片中全部体现时,软件会拍摄多张照片并将它们拼接在一起生成完整的DUT图片 · PCB 布局导入——可在导入的PCB layout文件(ODB++)上定义扫描区域,扫描结果会叠加显示在layout上 |
场分量 | · 可选X方向扫描(0°)、Y方向(90°)扫描或两者都扫 · 任何用户定义的角度扫描,比如30°或40° |
仪器设置 | · 仪器(SA,VNA,示波器,信号发生器或TLP)的关键参数都可在SmartScan v5中设置 · 也可以直接在仪器上设置好参数之后,让SmartScan读取 |
扫描设置导向 | · 指导用户逐步完成扫描设置,以避免犯错误或遗漏步骤。除非定义了每个必要的步骤,否则软件不允许启动扫描 |
元件库 | · 硬件元件(放大器、线缆、探头等)的S21数据都被储存在元件库。这些数据可以对测量值进行损耗或增益校正 · 可用S21数据快速计算系统因子 · 每个探头的频率响应都储存在元件库 |
数据处理 (或后处理) | · 可对扫描数据使用公式,如三角函数、指数函数、对数等常见数学公式进行运算 · 系统因子用于场的计算。把仪器测到的值在电中心高度(in dBm)转换成场值 · 可合并两或三个场分量 · 原始数据以txt格式被导出以进行下一步分析 |
数据可视化 | · 测量值叠在DUT图片上 · 点——每个测量点的颜色根据测量值变化 · 面——在点之间进行插值运算以显示测量值的平滑过渡和分布 · 3D 图 · 峰值搜索 · 追踪点 · 透明度调整,可查看测量数据下方的DUT图片 |
图形工具 | · 多个项目的绘图可以在一个图形窗口中显示 · 每个图可以被分别打开和关闭 |
IV. 探头
· API从设计、制作以及测试探头都在API实验室完成。
· API拥有超过100种不同的探头设计,其中25种探头作为标准探头搭配系统使用。
· 可提供探头定制服务,详情咨询API。
· 以下探头信息主要针对辐射测量探头(EMI 探头)
场分量 | · 探头测量所有6个分量:Hx、Hy、Hz、Ex、Ey和Ez |
频率范围 | · 覆盖50 kHz到40+ GHz · 测量能力可至50 kHz以下 |
探头特性描述 | · 探头的特性测试在常用的、实际的扫描条件下进行 · 想测的场分量和不需要测的场分量有最少20dB的差别* · 列出详细的特性测试步骤和测试条件,以便用户能重现测试结果 · 完整的探头特性报告
* 对于某些高频探头,小于20dB的差别是可接受的
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