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日本EMIC爱美克涡流探伤仪ET-5002
日本EMIC爱美克涡流探伤仪ET-5002
EMIC爱美克 ET-5002 涡流探伤仪
自動探傷用に適したベクトル液晶表示
各種条件設定表示を装備 ダイレクトキースイッチにより条件設定が簡単
既存検査搬送ラインに組み込む事により、簡単に自動探傷システムの構成が可能
複数台の構成で多チャンネルが可能な機能も装備
オプション機能で予め設定された条件を外部より選択、探傷も可能
●ディスク・ハブ・スピンドル・バルブリフター・ラックシャフト・スタットボルト・バルブシート・ベアリング・コンロッド・ボールジョイントなどの自動探傷
| コイル形状 | １）自己誘導形自己比較方式 |
|---|---|
| 試験周波数 | 標準256KHz |
| 感度範囲 | 0～60dB 0.2dBステップ |
| 位相範囲 | 0～359.5゜ 分解能0.5° |
| モニタ | １）探傷波形表示：5.5インチ液晶 ２）条件表示：４行２０桁液晶 |
| ノイズフィルタ | 1）ハイパスフィルタ（ＨＦＰ） OFF、10Hz～1KHz（１１段階） 減衰率：-24dB／oct |
| コンパレータ | Ｙ軸 ±10～90％（10％単位） Ｘ軸 ＯＦＦ、±10～90％（10％単位） |
| アナログ出力 | Ｘ、Ｙ：2V／FS |
| 制御端子 | 手動ゲート、部品ゲート |
| 判定表示、出力 | 良品、不良品、センサ断線、検査完了 |
| 電源入力 | ＡＣ100～240V 50／60Hz 約100VA |
| 外形寸法 | H320mm×H177mm×D280mm（突起部除く） |
| 質量 | 約7.5kg |
通过VMU-LB和固定倍率观察用相机卡口的
组合，能够对同一位置以不同倍率同时观
察。
(低倍率侧：2/3型、高倍率侧：1/2型等)
通过与YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物镜组合，可实现高精度、高
品质加工。
与简易支架一起使用，还可作为紧凑型显微镜使用。
★保护膜、有机薄膜等的剥离
★金、铝等金属配线切割、下层图案的外露
★FPD的各种缺陷修正
★光掩模修正
★标记、修剪、图像形成、局部退火、划线
