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怎么测介电常数和介质损耗

时间:2021-06-09      阅读:2124

  • 什么是介电常数

 某一电介质(如硅酸盐、高分子材料)组成的电容器在一定电压作用下所得到的电容量Cx与同样大小的介质为真空的电容器的电容量Co之比值,被称为该电介质材料的相对介电常数

  • 什么是介质损耗

​电介质材料在外电场作用下发热而损耗的那部分能量。在直流电场作用下,介质没有周期性损耗,基本上是稳态电流造成的损耗在交流电场作用下,介质损耗除了稳态电流损耗外,还有各种交流损耗。由于电场的频繁转向,电介质中的损耗要比直流电场作用时大许多(有时达到几千倍),因此介质损耗通常是指交流损耗。

 

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质;

通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。

  •  怎么测试介电常数

 

  1. S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。

介电常数测试仪 测微杆

 

  1. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz 时电感取100uH15MHz时电感取1.5uH
  2. 被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间(当材料介电大于6的情况下建议材料≥2mm),样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平整。(小于0.5mm的样品测试,请参考附录三,叠加测试法)
  3. 调节S916测试夹具的测微杆,使S916测试夹具的平板电容极片相接为止,按ZERO 清零按键,初始值设置为0
  4. 再松开两片极片,把被测样品夹入平板电容上下极片之间,调节S916测试夹具的测微杆,直到平板电容极片夹住样品止(注意调节时要用S916测试夹具的测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2。改变主机上的主调电容容量(旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量),使主机处于谐振点(Q值最大值)上。
  5. 取出S916测试夹具中的样品,这时主机又失去谐振(Q值变小),此时调节S916测试夹具的测微杆,使主机再回到谐振点(Q值最大值)上,读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4.
  6. 计算被测样品的介电常数:

     Σ=D2 / D4

介电常数测试仪

  • 怎么测介质损耗

  1. 主机C0值的计算方式:
  1. 选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端;
  2. 将调谐电容器调到200P左右,令这个电容是C4
  3. 按下仪器面板的频率搜索键,使测试回路谐振,谐振时Q的读数为Q4(注:若频率搜索未能找到最高Q值谐振点,可以通过频率旋钮来微调频率来达到Q值最大值的谐振点;
  4. 将测试夹具接在“Cx”两端,放入材料,上下极片夹紧材料后记住夹具显示值,然后拿出材料,调回到夹具的显示数值,调节主调电容,使测试电路重新谐振,此时可变电容器值为C3Q值读数为Q3(注:C3数值肯定比C4要小)

机构电容的有效电容为:Cz= C4C3

分布电容为机构电容CZ和电感分布电容CL(参考电感的技术说明)的和

介质损耗系数/介质损耗正切值为

 

  1. S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。
  2. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz 时电感取100uH15MHz时电感取1.5uH
  3. 被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间,样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平直。
  4. 调节S916测试夹具的测微杆,使S916测试夹具的平板电容极片相接为止,按ZERO 清零按键,初始值设置为0。再松开两片极片,把被测样品夹入两片极片之间,调节S916测试夹具的测微杆,到的平板电容极片夹住样品止(注意调节时要用S916测试夹具的,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2,改变主机上的主调电容容量,使主机处于谐振点(Q值最大值),然后按一次 主机上的小数点(tgδ)键,在显示屏上原电感显示位置上将显示C0= x x x(C0=Cz+CL电感分布电容)需要手动输入,记住厚度D2的值,此时显示数值为C2Q2
  5. 取出S916测试夹具中的样品,(保持S916测试夹具的平板电容极片之间距不变)这时主机又失去谐振(Q值变小),再改变主机上的主调电容容量,使主机重新处于谐振点(Q值最大值)上。
  6. 注意:多次测试同一个材料时,要求保持每次材料厚度的读数一致。
  7. 第二次按下 主机上的小数点(tgδ)键,显示屏上原C2Q2显示变化为C1Q1,同时显示介质损耗系数tn =x x x x x ,即完成测试。
  8. 出错提示,当出现tn =  NO 显示时,说明测试时出现了差错,发生了Q1 Q2C1 C2的错误情况。

北京航天伟创设备科技有限公司 经营多种型号介电常数测试仪、直流电阻测试仪、体积电阻率测试仪等。

 

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