天瑞镀层膜厚仪的测量原理：

　　本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂盖层的厚度及非磁性金属基体上非导电涂盖层的厚度。

　　a）磁性法（F型测头）

　　当测头与涂盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性涂盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出涂盖层的厚度。

 

　　b）涡流法（N型测头）

　　利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与涂盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出涂盖层的厚度。

 

　　天瑞镀层膜厚仪的特征：

　　1、微电脑控制、LCD液晶显示、PVC操作面板，方便用户快速、直观的查看检测数据和结果；

 

　　2、配置微型打印机，快速打印方块电阻值、厚度值、均匀度；

 

　　3、数据实时显示电阻值、厚度值；

 

　　4、试验结果，方便用户查询；

 

　　5、温度显示功能；

 

　　6、高精度接触式测量。