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DantecQ-450DantecQ-450高速DIC

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DantecQ-450高速DIC三维高速图像相关系统Q-450允许全场，非接触和三维动态测量的形状，位移和应变的元件和结构几乎任何材料。基于数字图像相关技术，设计了Q 450系统，用于全场振动分析和高速瞬态事件。例如：弹道试验，断裂力学，冲击激发，霍普金森杆试验或冲击试验。

DantecQ-450高速DIC DantecQ-450高速DIC DantecQ-450高速DIC

三维高速图像相关系统Q-450允许全场，非接触和三维动态测量的形状，位移和应变的元件和结构几乎任何材料。基于数字图像相关技术，设计了Q 450系统，用于全场振动分析和高速瞬态事件。例如：弹道试验，断裂力学，冲击激发，霍普金森杆试验或冲击试验。

该系统*地结合了高空间分辨率的全场光学测量和高时间分辨率.动态范围从静态到超过100，000赫兹，具有测量从微米到米范围的位移的能力。分辨率一般在1微米左右，应变为0.01%左右。该系统只需改变光学透镜即可用于任何尺寸的物体。各种扩展和应用配件使数字3D相关系统Q-450在不同的实验中易于使用。

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