M4 Tornado 微区X射线荧光光谱仪 产品简介：

Bruker M4 Tornado 微区X射线荧光光谱仪可用于对大块、不均匀、不规则，甚至小件的样品和包裹物进行高灵敏度、非破坏性的元素分析（Na11-U92），是研究样品成分分析、成分分布规律的新利器，可以给学者从宏观、微观、微宏观结合等多个角度提供新的研究思路。

·  采用多导毛细管聚焦镜，可将激发光聚焦到非常小的区域 （<20μm），以获得良好的空间分辨率，进行元素成像分析

·  涡轮增速X-Y-Z样品台，借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像。

·  通过可选的双X射线光管和多6个滤光片进行灵活的激发。

·  使用XFlash®探测器高速地获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步提高测量速度。

·  基于无标样分析法准确定量分析块状样品，准确分析多层膜样品。

·  具有便捷进样功能的可抽真空的样品室

·  输出高精度的元素分布图，分辨率可高达4000万像素，7168*5582  pixels。

微区 M4  Tornado 微区X射线荧光光谱仪具有广泛的应用环境，目前已经在植物环境、科技考古、地球科学、材料科学、生物工程、刑侦等领域有着诸多的应用案例。该设备在国内外有专业的应用开发人员，专注于新应用领域的开发。