微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO PLUS
视频简介
Bruker M4 Tornado Plus 微区X射线荧光光谱仪,可以对20cmX16cm的大尺寸样品进行高灵敏度、非破坏性元素-矿物分布分析(C6-Am95)。任何类型的样品都可以通过简单的样品制备甚至不制备直接进行分析。设备输出高精度的元素-矿物分布图,最高分辨率可达4000万像素 。
台阶仪--晶圆测试方面的应用
台阶仪-探针式表面轮廓仪DEKTAK XT
手持式X射线荧光光谱仪-合金分析仪
手持式矿石分析仪-手持式光谱仪
首页
公司介绍
产品分类
地图定位
在线交流
热线电话
联系方式
请选择您要拨打的电话: