iEDX-150WT型号光谱仪软件功能

1) 软件应用
- 单镀层测量
- 线性层测量，如：薄膜测量
- 双镀层测量
- 针对合金可同时进行镀层厚度和元素分析
- 三镀层测量。
- 无电镀镍测量
- 吸收模式的应用 DIN50987.1/ ISO3497-A2

- 励磁模式的应用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本参数法可以满足所有应用领域的测量

2) 软件标定
- 自动标定曲线进行多层分析

- 使用无标样基本参数计算方法

- 使用标样进行多点重复标定

- 标定曲线显示参数及自动调整功能

3) 软件校正功能：
- 基点校正（基线本底校正）

- 多材料基点校正，如：不锈钢，黄铜，青铜等

- 密度校正

    4) 软件测量功能：
    - 快速开始测量

    - 快速测量过程

    - 自动测量条件设定（光管电流，滤光片，ROI）

    5) 自动测量功能（软件平台）

    - 同模式重复功能（可实现多点自动检测）

    - 确认测量位置 (具有图形显示功能)

    - 测量开始点设定功能（每个文件中存储原始数据）

    - 测量开始点存储功能、打印数据

    - 旋转校正功能

    - TSP应用

    - 行扫描及格栅功能

    6) 光谱测量功能

    - 定性分析功能 （KLM 标记方法）

    - 每个能量/通道元素ROI光标

    - 光谱文件下载、删除、保存、比较功能

    - 光谱比较显示功能：两级显示/叠加显示/减法

    - 标度扩充、缩小功能（强度、能量）

    7） 数据处理功能

    - 监测统计值： 平均值、 标准偏差、 大值。

    - 小值、测量范围，N 编号、 Cp、 Cpk，

    - 独立曲线显示测量结果。

    - 自动优化曲线数值、数据控件

    8）其他功能

    - 系统自校正取决于仪器条件和操作环境

    - 独立操作控制平台

    - 视频参数调整

    - 仪器使用单根USB数据总线与外设连接

    - Multi-Ray、Smart-Ray自动输出检测报告（HTML，Excel）

    - 屏幕捕获显示监视器、样本图片、曲线等.......

    - 数据库检查程序

    - 镀层厚度测量程序保护。

• 仪器维修和调整功能

    - 自动校准功能；

    - 优化系统取决仪器条件和操作室环境；

    - 自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率，迭代法取决于峰位

      置、 CPS、主X射线强度、输入电压、操作环境。