POLOS 实时光谱测量装置用于研究所

FR-Mic 提供：

实时光谱测量

薄膜厚度、光学特性、不均匀性测量、厚度映射

使用集成的 USB 连接高质量彩色相机进行成像

 使用 FR-Mic，只需单击一下，即可在 UV / VIS / NIR 光谱范围内的任何光谱范围内对薄膜厚度、光学常数、反射率、透射率和吸光度进行局部测量。

FR-Mic  是用于快速&准确的涂层表征应用的模块化光学柱，这些应用需要小至几微米的光斑尺寸，典型的例子包括（但不限于）：微图案表面，粗糙表面和许多其他。它可以与专用的计算机控制的XY舞台结合使用，从而可以快速、轻松且准确地自动映射样品的厚度和光学属性。

POLOS 系列

FR-Mic 370 nm - 1700 nm 光谱范围

实时光谱测量

薄膜厚度、光学特性、不均匀性测量、厚度映射

使用集成的 USB 连接高质量彩色相机进行成像

品牌POLOS 系列

产品编号FR-麦克风-370-1700

大小FR-Mic 麦克风

材料台式系统

厚度范围15 nm 至 150 μm

光谱范围370 纳米 - 1700 纳米

光源 MTBF卤素灯（内部），3000 小时（不包括在内！

FR-Mic 370 nm - 1700 nm 光谱范围   应用：

大学和研究实验室

半导体（氧化物、氮化物、硅、光刻胶等）

POLOS 实时光谱测量装置用于研究所