Holmarc 开发了一种 532nm 激光显微镜，该显微镜基于由激发光束和探测光束组成的同轴光束所引起的热透镜效应。该方案通过使用入射到样品上的 200 mW 加热激光功率，可以测量 0.35 μm3 体积内低至 1.2 × 10-7 的吸收系数。结果证明，如果使用净空为 1.2 的水浸物镜，轴向分辨率可达 450 nm。

                                                                                           规格

光学系统 无限校正共焦直立显微镜

显微镜设计 双侧鼻镜转塔

镜筒长度 200 毫米

鼻托 旋转物镜鼻托（鼻托有滤光片滑块槽）

物镜 Plan Apo 无限校正长 WD 物镜

焦距控制 软件可控

基片扫描 电动 MTS 系列精密 X Y 扫描平台

X 轴行程 100 毫米

Y 轴行程 100 毫米

样品定位 配备倾斜和对准平台

分辨率 1 微米

Z 轴行程 20 毫米

分辨率 1 微米

激发激光源 532 nm DPSS

激光功率 低噪音输出 200 mW

基于物镜的空间滤波单元

光斑尺寸 1 - 5 微米

强度控制 通过 PC 实现连续可变

光功率反馈装置 是

聚焦控制 软件可控

光级控制 4096 级

探头激光源波长 650 nm，带电动相对焦平面调节装置

电动偏振片旋转器 - Glan Thompson

激光束精确强度控制附件

光斩波器 频率 10 - 5000 Hz

探测器 硅光电二极管

基于 PC 的接口

对准摄像头 500 万像素 1/2.5" CMOS 摄像头

有效像素 2592 H × 1944 V

像素尺寸 2.2 微米 × 2.2 微米

视场角（毫米） 2.5 x 1.9 毫米

光学成像分辨率 1 μm（水平/横向成像）

软件 图像分析软件 IMAGE Pro 2.25 版

图像处理 背景补偿、对比度增强和图像滤波、粒度测定等

                                                                                                       绘图

通过热光学方法，可以直接从辐照开始后的时间信号发展中获取与热传播有关的材料参数信息（热导率、热容量、折射率、密度、粘度等）。