Fizeau 干涉仪(HO-OFIZ-215)
时间:2024-11-18 阅读:26
菲佐干涉仪是最灵活的干涉仪,可通过非接触配置测量平面和球面。它的参考光路和测量光路相同,因此是一种结构紧凑、抗震的系统。Fizeau Interferometer与Fabry-Perot interferometer相似,都由两个反射面组成。不过,在菲佐干涉仪中,第二个表面通常是全反射的。角度分束器捕捉参考光束和测量光束。
Holmarc 菲佐干涉仪采用开放式垂直配置。它适用于平面和球面的常规测量。光源采用 DPSS 激光器。垂直方向的光学布局便于放置测试元件。CCD 摄像机捕捉到的条纹由计算机进行分析。该设备既可用于生产过程中的光学质量控制,也可用于实验室的常规检测。
功能
可进行高精度平面度测量
使用静态条纹分析软件
仪器采用直立式结构,便于固定测试样品
使用高质量的像差校正光学元件
规格
样品尺寸:≤ 100 毫米
参考平面:λ/20 P V 直径 100 mm 厚度 25 mm
精度:≤ λ / 20 PV
激光源:DPSS 5.0 mW 532 nm
校准:通过 倾斜样品底座
摄像头:CCD 1280 x 1024 分辨率
分析:使用 条纹分析软件
重量:约 25 千克
电源:220 伏 ,50 赫兹
包括的组件
532nm (5 mW) DPSS 激光源、
空间滤波器组件
分光镜
带支架的准直透镜
带支架的参考平面
测试平面支架
带 CCD 等的变焦镜头