Chroma 58620藉由多年在半导体IC测试的经验与技术，发展共享载具与更换治具等概念并应用于激光二极管产业。传统在激光二极管前段测试过程中，需经过多次的老化测试(Burn-In) 与特性检测制程(Characterization)，在更换载具的过程中常会损坏待测物减低良率，共享载具的好处可让研发或操作员只需要在D一次将激光二极管放置于载具中，即可在不接触待测物之下完成所有必要的检测，此设计亦可搭配Chroma 58601老化测试机。然而，激光二极管的形式(Form Factor) 于各家设计皆有所不同，而58620更换治具(Change Kit) 的概念可符合世界上大多激光二极管的封装形式进行修改后即马上可进行量测，目前可使用的形式为Chip on carrier， Chip on sub-mount，Laser-bar等。

主要特色：

全自动化检测边射型激光半导体芯片

高精密及高容量载具设计

自动光纤耦合测试对位设计(Auto-alignment)

AOI辅助定位，加速测试时间

共用载具设计可搭配烧机测试

高精密TEC温度控制，稳定度达0.01℃

搭配Chroma PXI-Base SMU/Power meter

软体分析激光特性: Ith，Rs，Vf，Slope Efficiency，λp等