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MiniTest FH壁厚测厚仪
MiniTest FH 壁厚测厚仪是一款便携式测量仪器，用于测量壁厚最大24mm的材料厚度。符合人体工程学的外壳形状以及易于操作的界面使MiniTest FH成为生产和任何质量实验室的理想测量工具。 参考价面议 -
ATT-SM台式可调光衰减器
ATT-SM台式可调光衰减器能够对光信号进行连续可变衰减，适用于光功率计的检测校准以及通信设备的数字体系(PDH、SDH)和采用模拟调制(CATV)等系统的应用。 参考价面议 -
LS-DFB/FP稳定光源
LS-DFB/FP稳定光源采用高稳定的半导体激光芯片，单模光纤输出，专业设计的驱动与温控电路控制，保证激光器安全稳定工作。适用于光功率计的检测校准以及光纤网络测试等应用。 参考价面议 -
OF-2C光纤功率计校准装置
OF-2C型光纤功率计校准装置采用 InGaAs光探测器,探测波长范围 700nm 至1700nm;采用高清触控液晶界面,RS232 数字通信,支持模拟量输出和外部脉冲触发采集数据等功能。 参考价面议 -
Rhopoint IQ 20/60/85鲜映性雾影测试仪
Rhopoint IQ 鲜映性雾影测试仪可量化标准光泽度仪无法测量的表面的质量问题，并分析光线如何从表面反射。能够测量：• 20/60/85° 光泽度• 峰值反射率• 反射雾影• RIQ 成像质量• DOI 鲜映性• 测角光度曲线 参考价面议 -
MVAS-6六角度光谱仪
六角度光谱仪MVAS-6
基于科学级光谱传感器设计而成的六角度光谱仪，实现对显示器六角度同时检测
适用于高饱和度或广色域 OLED、Micro LED 和量子点显示器
适用于LCD、OLED等不同视角下，色度、亮度、光谱数据评估; 色域、主波长、Flicker及对比度检测，JNCD等测试
车载、手机显示器多角度色坐标检测
适合于生产车间测试或实验室使用 参考价面议 -
CM4太阳总辐射表
CM4 高温总辐射表是一款专用辐射计，设计用于测量高低温度条件下的太阳或人工光辐照度。
该产品工作温度范围为 -40 ºC ~ 150 ºC，可测量的辐照度最高可达 4000 W/m²。辐射计内的所有零部件均经过精心挑选，能够承受较高温和辐照条件。 参考价面议 -
METEON 2.0数据记录仪
METEON 2.0 可与我司生产的任意一台太阳总辐射表连接，并为您提供实时测量值。有助于您在安装后，检查现场太阳总辐射表、数据记录仪和数据采集系统是否正常运转；或通过与参考太阳总辐射表对比进行入射辐射的验证。
还可与我司生产的 5 个智能型辐射计（不仅仅是太阳能辐射测量仪）连接，并对其供电，还能让您在现场简便地进行传感器 Modbus®地址和通讯参数的设置，且无需使用计算机和软件。 参考价面议 -
CMP10太阳总辐射表
CMP 10 是一款性价比高的 标准总辐射表，其性能更为优越。在维护工作难以实施，并且构成可观的成本支出的项目中，本款产品是您的良好选择。
CMP 10 带内置干燥剂，在不打开外壳的情况下至少可以使用 10 年，降低维护成本。通过搭配使用 CVF 4 通风装置，延长了圆顶的清洁时间间隔，并提高了测量质量。 参考价面议 -
Sp Lite2太阳总辐射表
Sp Lite2是专为全天候测量太阳辐射而设计的。它的扩散器具有非常好的方向响应，并且很大程度上是自清洁的。探测器采用硅光电二极管，所以光谱响应不如我们的 cmp/smp 系列型号辐射探测器宽广。 参考价面议 -
LVmicroZ显微分光系统
LVmicroZ是显微分光系统，使用Lambda Vision制造分光专用显微镜，采用小孔直良手法测量彩色滤光片的微小面积的穿透率、反射率、辨色。分光器内建光源，可以直接观察量测点位置，也可以做反射光下的NIR颜料膜厚测量。 参考价面议 -
A3-SR-200反射式膜厚测量仪
A3-SR系列反射式膜厚仪可用于测量半导体镀膜，手机触摸屏ITO等镀膜厚度，PET柔性涂布的胶厚等厚度，LED镀膜厚度，建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。 参考价面议