X荧光定硫仪采用紫外荧光法测定原理。当样品被引入高温裂解炉后，经氧化裂解，其中的硫定量地转化为二氧化硫，反应气经干燥脱水后进入荧光室。在荧光室中，部分二氧化硫受紫外光照后转化为激发态的二氧化硫(S02*)，当SO2跃迁到基态时发射出光子,光电子信号由光电倍增管接收放大。再经放大器放大，计算机数据处理,即可以转换为光强度成正比的电信号。在一定条件 下反应中产生的荧光强度SO2与二氧化硫的生成量成正比，二氧化硫的量又与样品中的总硫含量成正比，故可以通过测定荧光强度来测定样品中的总硫含量。分析样品前，先用标样校正曲线，在相同条件下再分析样品，程序自动依据标样校正曲线计算出样品的硫含量。
 

　　X荧光定硫仪测样的具体方法：
 

　　(1) 待测样应在基体、碳氢比(C/H)与标定样基本一致。若待测样与硫标样的基体、碳氢比(C/H)不一致，会造成误差，本仪器具有自动碳氢比C/H修正，但如果两者之间相差较大，建议使用与待测样品接近的硫标样标定仪器工作曲线;
 

　　(2)待测样品应是清晰均匀的，如果样品有沉淀物存在，将给测量结果带来较大误差。为了准确测量，可将样品中沉淀物滤掉后再测量;
 

　　(3)对于硫含量浓度高于5%(m/m)的待测样，可用白油将其稀释得到仪器硫含量分析范围;
 

　　(4)对于粘稠性待测样，应用热水加热后，待流动性较好时再倒入样品杯;
 

　　(5) 倒入样品杯中待测样深度在3-4mm之间，保证待测样液体与样品杯底聚脂膜之间没有气泡;
 

　　(6)高浓度的芳香族待测样可能会溶解聚脂膜，因而待测样倒入样品杯后，应快速测定。待测样取样方法参照国家标准(GB/T4756)进行。