手持式XRF光谱仪为您提供快速分析和低检测限
时间：2021-07-15 阅读：1982
XRF分析仪的工作原理可以概述如下：(1) 发射X射线，激发样品产生荧光; (2) 探测器接收X射线荧光; (3) 利用复杂的运算对数据进行处理; (4) 牌号识别。XRF是一种表面检测技术。对于诸如铝制类的轻合金，XRF分析仪只能对试样表面深度几百微米进行测量。对于铸铁或铜等主要金属，XRF分析仪对试样的测量深度小于一百微米。而对于金或铅等致密材料，其仅能测量表面的数十微米。这就意味着材料表面准确体现总体成分这一点非常关键。诸如油漆、密封材料和镀层以及表面污染等可能会对分析造成极大影响。与此类似，喷砂或抛丸、研磨、甚至粉尘的残留物均可能影响材料可靠性鉴别。因此在使用XRF分析仪进行检测之前务必对试样进行清洁。
Niton XL2 Plus 手持式XRF光谱仪旨在提供快速分析和低检测限，确保获得可靠结果。Niton XL2 Plus 通过专有2W x- 射线管、动态电流调节和新一代硅漂移探测器为每次测量提供良好灵敏度。Niton XL2 Plus 通过智能基本参数法（FP）校正样品基质效应以获得准确结果。Niton XL2 Plus 手持式XRF光谱仪以完善的配置和多功能性，旨在应对恶劣的分析环境挑战。在分析尖锐物品时，通过标准 Detector ProGuard 保护装置将穿刺风险降至低。Niton XL2 Plus 具有经认证的IP54防护等级，密闭防潮防尘，即使在严苛的工业环境中也能确保不间断运行。应用程序界面简洁，方便导航，保持了即点即拍的简单性。可通过触摸屏或可选的方向键进行快速导航。热插拔电池能保证更换低电量电池时始终维持仪器正常运行。集成微型摄像头和鼻锥防护准直装置为每次测量提供样品定位。
无论是在现场还是在车间，Niton XL2 Plus 都能使您随时应对具挑战的工业环境。操作人员可检测各种材料，满足不同分析需求。识别纯金属和合金，检测杂质元素或获取地球化学数据 - Niton XL2 Plus 随时应对各种分析挑战。