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上海市所在地
| 参数 | LS221膜厚仪 |
| 测头 | 红宝石固定 |
| 测量原理 | Fe:霍尔效应 / NFe:电涡流效应 |
| 探头类型 | 外置连线式 |
| 测量范围 | 0.0-2000μm |
分辨率 | 0.1μm:（0μm - 99.9μm） 0.01mm:（1.00mm - 2.00mm） |
| 测量精度 | ≤±(3%读数+2μm) |
| 单位 | μm / mil |
| 测量间隔 | 0.5s |
| 最小测量区域 | Ø= 25mm |
| 最小曲率半径 | 凸面:5mm / 凹面:25mm |
| 最小基体厚度 | Fe:0.2mm / NFe:0.05mm |
| 显示 | 128×48点阵LCD |
| 供电方式 | 2节 1.5V AAA碱性电池 |
| 工作温度范围 | 0℃-50℃ |
| 存储温度范围 | -20℃-60℃ |
| 主机尺寸 | 101*62*28 mm |
| LS221探头尺寸 | 71*26*22 mm |
| 重量（含电池） | 114g |
1、膜厚仪采用的是红宝石探头，耐腐蚀和耐磨性能，保证仪器长期有效的使用。
2、膜厚仪无需校准，只需调零，按键，操作极其简单。
3、测量快速，0.5秒完成一次测量。
4、膜厚仪具有温度补偿功能和模拟信号端数字化功能，确保测厚仪的传感器信号稳定。
5、探头可自动识别测量基体，可快速自动转换。
6、仪器有具有铁基测量(Fe)、非铁基测量(NFe)和自动识别(Fe/NFe)三种测量模式。
