PCT加速寿命老化箱亦称“高温高压蒸煮仪、压力锅蒸煮试验机”，用于耐湿性评估和强健性测试，目的在于用压缩湿气和饱和湿气环境下，评估非气密性封装固态元件的抗湿性。例如:测试印刷线路板(PCB或FPC)吸湿率、半导体封装之抗湿气能力、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等。

PCT加速寿命老化箱是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件对元器件进行加速抗湿性试验和恒定湿热试验。

PCT加速寿命老化箱特点：

1.圆弧内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验中结露滴水设计。　

2.精密设计，气密性良好，试验开始时系统自动一次加足试验所需用水，试验不中断。

3.新型伺服流量调控技术，节能30%左右。

4.流体仿真技术+创新结构设计，设备比传统技术寿命延长1/3以上。

5.大型彩色液晶触摸控制器，侧面缆线孔方便外部负载及内部数据连接，通过选购接口可进行网络监控。　

满足试验标准：

1.GB/T10586-1989湿热试验室技术条件。

2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验。

3.MIL-STD810D方法502.2。

4.GJB150.9-8温湿试验。

5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验。

6. JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）

应用领域：

PCB，半导体，显示面板，太阳能，磁性材料，高分子材料等