1、LANGER扫描仪探头100 KHz至50 MHz LFS-B 3

①LFS-B 3 H场探头的测量线圈与探头轴正交布置。当探头垂直放置时，测量线圈直接位于印刷电路板的表面上。这样就可以在电路板表面上难以触及的位置进行测量，例如在开关调节器的大型组件之间进行测量。

②LFS-B 3是无源近场探头。与磁场探头LFS-R 3的区别在于线圈旋转了90°。LFS-B 3检测从测量对象正交出现的磁场线。未检测到从侧面进入探头的磁场线。近场探头小巧方便。它具有护套电流阻尼并且具有电屏蔽功能。近场探头连接到具有50Ω输入的频谱分析仪或示波器。H场探头内部没有50端接电阻。

2、LANGER近场探头

①单个近场探头不足以搜索发射。而是，硬件开发人员的任务是选择和使用相关的探针。

②对于模块的EMC优化，重要的是开发一种用于近场测量的测量策略，以便使用所选的近场探头在板上找到发射源。

③Langer EMV-Technik GmbH为模块上的近场侦察提供各种H/B近场探头和E/D近场探头。每个探针家族都是根据特定任务开发的。

④Langer EMV-Technik GmbH的近场探头特别具有实用的引脚形状。它们很小且方便。这使开发人员可以在其电子产品上进行灵活而有针对性的测量。

⑤Langer EMV-Technik GmbH的近场探头通常适用于在100 kHz至20 GHz频率范围内测量RF干扰所需的所有预一致性测量。

⑥所有近场探头均由德国的Langer EMV-Technik GmbH开发，制造和校准。具有校正特性，可以将输出端的探针电压转换为探针头位置处的磁场。校正特性可作为EXCEL作为xlsx文件下载准备在他们的网站上。您会从Langer EMV-Technik GmbH获得特别设计的成套或单独的近场探头。

3、LANGER近场探头100 kHz至50 MHz LF1套装

①近场探头套件LF1包含四个屏蔽无源近场探头，用于电子组件上LW，MW和KW范围内HF磁场的发展伴随测量。Set LF1的探头可以逐步定位模块上的干扰发射源。

②首先，使用LF-R 400探头从更远的距离确定模块的干扰发射。此外，使用更高分辨率的探头LF-B 3，LF-U 5和LF-U 2.5，可以更精确地定位干扰源。

③这些探头可以对单个引脚，较大的组件和结构部件进行测量。近场探头小巧方便。它们具有护套电流阻尼并且被电屏蔽。近场探头连接到具有50Ω输入的频谱分析仪或示波器。

④磁场探头LF-B 3的测量线圈与探头轴正交。当探头垂直放置时，测量线圈直接位于印刷电路板的表面上。结果，在电路板表面难以到达的位置进行了测量，例如在大型建筑物之间。