适合评估光学元件的多端口光功率计介绍
时间:2021-10-13 阅读:1424
适合评估光学元件的多端口光功率计介绍
MPM-210H / MPM-211、212、213、215
多端口光器件光学特性的高速测量
可进行高速测量(每个端口最多 100 万个记录点)
一台设备最多可测量20个端口(可同时使用多台设备)
功率计模块 (MPM-211 / 212/215)
电流表模块 (MPM-213)
概述
MPM-210H 非常适合对多端口光学组件(例如波长选择开关 (WSS) 和 AWG 模块)进行插入损耗和 WDL/PDL 测量。通过与配备功率监视器输出的可调光源(TSL 系列)组合,可以实时消除光源的光输出波动,并进行高精度的损耗测量。
有关光学表征系统的更多信息,请参阅扫描测试系统 。
特征
高速测量
每个
端口最多可进行 100 万点的记录采样 每个端口配备两个存储器,即使在记录期间也可以读取
最高 100 kHz 的高速采样是可能的高动态范围
-80 ~ + 10dBm (MPM-211 / 212)
-70 ~ + 5dBm (MPM-215)高动态范围(在记录模式下)
50dB / 扫描 (MPM-211 / 212)
70dB / 扫描 (MPM-215)电流表模块 (MPM-213)
输入功率范围 --70 至 + 10 dBmA配备模拟输出(MPM-212)
最多可安装5个模块(最多可同时测量20个端口)
波长范围 1250-1650 nm
MPM-210H 是 MPM-210 的向上兼容型号
运用
光功率测量
IL/WDL/PDL 测量(扫频测试系统)