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液晶面板表面缺陷及检测应用分析

时间：2023-08-25 阅读：655

液晶面板表面缺陷及检测应用分析

薄膜显晶体管液晶显示器（TFT-LCD）具有高分辨率和功耗低等优点，因此被广泛应用于显示器行业。

但是显示屏的生产过程流程多、环境等因素，难以避免会出现缺陷显示屏，导致产品不良率较高。TFT-LCD显示屏的制作包括镀膜、刻蚀、显影、面板组合、灌晶封口和安装驱动芯片等工艺，复杂的工序导致缺陷的出现，常见的缺陷包括点缺陷，线缺陷和Mura缺陷。

“Mura”一词来源于日语，译为斑点、脏污，也被称为“云斑”，是显示缺陷中最难检测的缺陷之一。传统的Mura检测方法是通过人工视觉检查的方式实现的，主要采用裸眼辨别的方法。此方法效率低下，并且容易造成视觉疲劳，从而导致结果正确率降低。

基于机器视觉的液晶面板检测，可实现对液晶面板的各个生产工艺产生的缺陷进行检测，包括Array（阵列）工艺，CF（彩膜）工艺，CELL（成盒）工艺，Module（模组）工艺，可实现对crack（裂纹），broken（破损），chip（崩边），scratch（划痕），burr（毛刺），drop（水滴）等缺陷的有效检测区分。

日本sena卤素表面检查灯185le

日本sena lamp高照度卤素强光灯185LE屏幕面板检查灯

高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。

适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。