CS-1 晶片内位错检测仪产品介绍
时间:2024-05-21 阅读:209
CS-1 晶片内位错检测仪产品介绍
”Crystalline Tester CS1”是非破坏性、非接触式检测可见光(波长400~800nm)透明性晶体材料中由于残留的缺陷、应力引起的晶格畸变后分布情况的便捷式检测设备。通过本设备可以实现快速、准确地把握目检下无法看到的晶体晶格畸变的状态。
产品特征
产品特长 |
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可测量材料 |
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测试效果不佳材料 | ・无可视光透视性材料:Si、GaAs等 |
时间:2024-05-21 阅读:209
CS-1 晶片内位错检测仪产品介绍
”Crystalline Tester CS1”是非破坏性、非接触式检测可见光(波长400~800nm)透明性晶体材料中由于残留的缺陷、应力引起的晶格畸变后分布情况的便捷式检测设备。通过本设备可以实现快速、准确地把握目检下无法看到的晶体晶格畸变的状态。
产品特长 |
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可测量材料 |
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测试效果不佳材料 | ・无可视光透视性材料:Si、GaAs等 |