应变检测应用实例分析
时间：2024-05-27 阅读：271
应变检测应用实例分析
减少镜片的残余应力
眼镜镜片
装配/紧固调节
SiC晶圆缺陷检测
研究智能手机外壳的树脂成型条件
彩色树脂评价
智能手机外壳
薄膜热熔接/异物检查
冰淇淋勺
请注意，“扭曲”一词因人而异。
相关术语包括应力（MPa、Kg/cm2）、相位差（延迟、光程差）（nm）、双折射（nm/cm）和表面粗糙度。
Luceo 中的“失真”具有以下含义。
将应力作用于玻璃内的状态表示为“存在应变”或“应变残留”，
“应变”被称为“应力”或“应力”。带有“存在不合理情况”的含义。
在玻璃领域，应变已经与这种细微差别一起使用了很长时间，而在材料力学这个处理应力的一般领域中，“应变”是指由力、温度变化等引起的原始形状。膨胀和收缩、弯曲、扭曲等，并且应该以不同的含义使用，因此必须小心。
以下是应力和应变的简单定义。
畸变有以下几种类型：
1. 施加外力时的变形（应变）
将玻璃推入框架等
2. 暂时热冲击引起的变形
（加热部分玻璃）
3. 凝固过程中热历史引起的变形
（表面急冷，内部高温）
畸变检测方法
使用两个偏光板来检测应变。偏光板具有称为偏振光透射轴的轴向。
图像是盲目的。
设置偏振器使其轴平行可以实现更好的光传输。相反，如果轴设置为彼此垂直，则几乎没有光会通过。
如果将样品放置在样品中，使这些轴彼此垂直，则来自扭曲区域的光将逸出并被检测到。
应变检查的类型
正交尼科尔法
特点
：简单的结构，由一个光源和两个偏光板组成。
・如果偏光板的轴与畸变轴重叠，畸变就会被隐藏。
应变检查的类型
圆偏振
将样品放置在视野内即可进行观察，而不必担心 特性或应变的轴向方向。
应变检查的类型
塞纳蒙法
可以进行 特性/定量测量（数字化）。
应变检查的类型
感色法
特点
： 可以检测微小的变形。
・通过使用应变标准板，还可以进行简单的定量测量（数字化）。
LSM系列
| 产品编号 | 检查方法 | 定量 测量 | 测量范围 （纳米） | 测量/观察 可能范围 （mm） | 样品排列 空间 高度(mm) | 目的 | 特征 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| LSM-9002LE | 旋转分析仪法 | ○ | 0-130 | 200×200 | 0-160 | ・玻璃制品的畸变检查 ・塑料制品的畸变检查 ・结晶材料的应力检查 ・光学薄膜的相位差测量 | 新新软件 ・任何人都可以一键轻松测量 | ||||
| LSM-9002S | 旋转分析仪法 | ○ | 0-130 | 最大：60×60 最小：10×10 | 0-115 | ・玻璃制品的畸变检查 ・塑料制品的畸变检查 ・结晶材料的应力检查 ・光学薄膜的相位差测量 | 新新软件 ・任何人只需单击一下即可轻松测量 | ||||
| LSM-9001近红外 | 近红外旋转分析仪法 | ○ | 0-150 | 约50毫米×50毫米 | 0-160 | ・Si、SiC、GaN、玻璃晶片的应变分布评价 ・有色玻璃、丙烯酸树脂产品的应变分布评价 | ・任何人都可以一键轻松测量 ・二维测量型应变测试仪 ・可在几分钟内评估约 50x50mm 产品的表面分布 ・可保存评估数据和畸变观察图像数据 ・延迟测量范围：0~150nm | ||||
| LSM-9100W近红外 | 近红外3波长线偏振法 | ○ | 100-5,000（估计） | φ100 | 0-160 | ・着色树脂制品的应变分布评价 ・树脂薄膜的拉伸不均检查 | ・任何人只需点击一下即可轻松测量 ・二维测量型应变测试仪 ・可在几分钟内对 Φ100 mm 尺寸的产品进行表面分布评价 ・可保存评价数据和应变观察图像数据 ・延迟测量范围：100~5,000nm（大约） - 能够评估着色树脂产品的残余应力 | ||||
| LSM-9001LE | 旋转分析仪法 | ○ | 0-130 | 200×200 | 0-160 | ・玻璃制品的畸变检查 ・塑料制品的畸变检查 ・结晶材料的应力检查 ・光学薄膜的相位差测量 | ・任何人都可以一键轻松测量 ・二维测量型应变测试仪 ・可以保存测量数据和畸变观察图像数据 ・延迟测量范围：0~130nm | 行了一些小改动。查看 LSM-9002系列 | |||
| LSM-9001S | 旋转分析仪法 | ○ | 0-130 | 最大：60×60 最小：10×10 | 0-115 | ・玻璃制品的畸变检查 ・塑料制品的畸变检查 ・结晶材料的应力检查 ・光学薄膜的相位差测量 | ・任何人只需单击一下即可轻松测量 ・二维测量应变测试仪 ・可保存测量数据和畸变观察图像数据 ・延迟测量范围：0 至 130 nm ・配备 6 倍光学变焦镜头 | 进行了一些小改动。查看 LSM-9002系列 | |||
| LSM-9100W | RGB线偏振方式 | ○ | 30～3,000 | φ150 | 0-160 | ・玻璃制品的畸变检查 ・塑料制品的畸变检查 ・结晶材料的应力检查 ・光学薄膜的相位差测量 | ・任何人一键即可轻松测量 ・二维测量应变测试仪 ・可保存测量数据和畸变观察图像数据 ・延迟测量范围：0～3,000 nm ・可测量塑料等较大的畸变 | ||||
| LSM-9100WS | RGB线偏振方式 | ○ | 30～3,000 | 最大：60×60 最小：10×10 | 0-115 | ・玻璃制品的畸变检查 ・塑料制品的畸变检查 ・结晶材料的应力检查 ・光学薄膜的相位差测量 | ・任何人只需单击一下即可轻松测量 ・二维测量型应变测试仪 ・可以保存测量数据和应变观察图像数据 ・延迟测量范围：0 至 3000 nm ・可测量塑料等相对较大的变形可 - 配备 6x光学变焦镜头 | ||||
*使用 Senarmont 方法测量时。