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液晶面板表面缺陷及检测方法与检测设备分析

时间:2024-12-03      阅读:94

液晶面板表面缺陷及检测方法与检测设备分析

在工业生产中,产品表面经常遇到的不良品类型,大多是裂痕、划痕、脏污等。而这些不良的缺陷检测,随着机器视觉行业的发展,技术的提高,已经有很大的突破,不再是检测的难点。

目前在3C电子领域,例如金属面、玻璃面、手屏面板、液晶面板等行业表面检测上应用广泛。但是,由于这些缺陷形状不规则、深浅对比度低,而且往往会被产品表面的自然纹理或图案所干扰。

表面划痕通常可分为三大类:

第一类划痕

从外观上较易辨认,灰度变化跟周围区域对比也比较明显。可以选择较小的阈值精缺陷部分直接标记。


第二类划痕

部分灰度值变化并不明显,整幅图像灰度比较平均,划痕面积也比较小,只有几个像素点,灰度也只比周围图像稍低,很难分辨。可以对原图像进行均值滤波,得到较平滑的图像,并与原图像相减,当其差的绝对值大于阈值时就将其置为目标,并对所有的目标进行标记,计算其面积,将面积过小的目标去掉,剩下的就标记为划痕。


第三类划痕

各部分灰度差异较大,形状通常呈长条形,如果在一幅图像上采取固定阈值分割,则标记的缺陷部分会小于实际部分。

由于在工业检测中图像的多样性,对于每一种图像,都要经过分析综合考虑各种手段来进行处理达到效果。

一般来说,划痕部分的灰度值和周围正常部分相比要暗,也就是划痕部分灰度值偏小;而且,大多都是在光滑表面,所以整幅图的灰度变化总体来说非常均匀,缺乏纹理特征。

因此,划痕的检测一般使用基于统计的灰度特征或者阈值分割的方法将划痕部分标出。

行业应用:

玻璃,金属,液晶板、手机屏幕、塑料等等表面检测。

半导体材料品质检测设备之目视检查灯YP-150I介绍


 

是宏観観察用的照明設備,可検測各種缺陥如半導体晶片及液晶基板加工中費人工的成形製品表面
的異物、刮痕、抛光不均、霧状、划傷等。

概要

  1. 可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。
  2. 因使用鹵素光源灯的光源,具有色温度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
  3. 冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3
  4. 二段切換構造,可用按扭切換高照明観察及低照明観察。

日本sena lamp高照度卤素强光灯185FI手机屏幕检查灯

 

高照度照明设备(表面检查灯)185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。

适合于TFT面板、CF(彩色滤光片),触摸屏制造等行业。

标准构成如下。

照度:照射距离 310mm、照射直径径 55mmφ时照度在 400,000 Lux以上)

光源:直流点灯 17V/185W 卤素灯

照度调整:连续可调至照度的 20%

冷却方式:强制空冷

使用温度范囲:0~40℃

电源电圧:AC 95V~AC 260V,50/60Hz

功率:250W

尺寸:光源 136mm H×112mm W×150mm D

电源 229mm H×90mm W×250mm D

重量:光源2.3kg

电源3.6kg

立杆5.0kg 



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