日本ae-mic用于超高精度电阻器检查AE-163D_其他设备-秋山科技（东莞）有限公司手机版

详细介绍

日本ae-mic用于超高精度电阻器检查AE-163D

适用于 B，C，D，F，G，J，K类，切屑，熔体，径向和轴向电阻器的分拣和编带机

校准后90天[校准后1年：两倍]的测量范围和基本精度（环境温度23°C±5°C）

日本ae-mic用于超高精度电阻器检查AE-163D

测量范围	标准值设定范围	实测电流	测量精度^*
测量范围	标准值设定范围	实测电流	慢[高分辨率]	快速[LO-Resco。]	快速[Lo-Resco。]
100毫欧	5mΩ-100mΩ	180毫安	±0.01％±α±10d以内	在±0.02％±α±2d之内	≤±0.03％±2α±3d±[2 /（1 + n）] d
1Ω	100.1mΩ〜1Ω	180毫安	在±0.005％±α±3d之内	±0.02％±α±1d以内	≤±0.02％±α±2d±[2 /（1 + n）] d
10Ω	1.001Ω〜10Ω	90毫安	在±0.005％±α±3d之内	±0.02％±α±1d以内	≤±0.02％±α±2d±[2 /（1 + n）] d
100Ω	10.01Ω-100Ω	18毫安	±0.005％±1d以内	±0.02％±1d以内	在±0.02％±2d±[1 /（1 + n）] d之内
1kΩ	100.1Ω〜1kΩ	9毫安
10kΩ的	1.001kΩ〜10kΩ	0.9毫安
100kΩ的	10.01kΩ-100kΩ	90微安
1兆欧	100.1kΩ〜1MΩ	9微安	±0.007％±1d以内		在±0.05％±2d±[1 /（1 + n）] d之内
10兆欧	1.001MΩ〜10MΩ	0.9微安	±0.02％±10d以内	±0.03％±1d以内	在±0.2％±4d±[1 /（1 + n）] d之内
100兆欧	10.01MΩ-100MΩ	0.09微安	±0.1％±20d以内	±0.1％±2d以内	---

* D =数字，n =积分时间（毫秒），使用Lo-Reso测量值
％时测量：α=（100 /标准设定值mΩ）x 0.01％，测量值时： α= 0（加±1d）
**屏蔽状态下的精度

测量时间	外部启动		自由奔跑
	慢	快速	慢	快速
	大约24毫秒-400毫秒	大约11毫秒-400毫秒	约5次/秒〜约2次/秒	约10次/秒〜约2次/秒

*规格如有变更，恕不另行通知。