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CMOS线扫描传感器ZS64A5K
所述ZS64A5K 是CMOS线扫描传感器与用于非接触三维测量非常高的分辨率。借助于透镜，将要测量的对象成像到传感器中的线性CMOS阵列。镜头确定测量范围。标准镜头可覆盖1毫米至5000毫米的测量范围。
ZS64A5K的特性：
CMOS线扫描传感器ZS64A5K
引伸计是一种在材料测试（例如拉伸测试）过程中测量材料样品应变的仪器。原则上，引伸计有两种类型：接触式和非接触式。接触测量可以通过夹式引伸计进行；这种仪器具有至少两个机械地连接到样本的边缘。拉伸样本会导致边缘之间的距离变长，这与样本长度的变化相对应。
对于非接触式测量，使用模拟或数字光学引伸计。为了测量材料样品上的应变，样品通常带有黑白标记。引伸计内的传感器检测标记的运动，从而检测拉伸试验期间长度的变化。有引伸计，即使材料样品温度非常高（高达3000°C），它们也能够测量非常快的应变（> 100 m / s）。
在拉伸试验中，非接触式测量装置是有利的。通常可以将它们设置在距样品一定距离的位置，以防止样品的飞散碎片损坏测量仪器。因此，光学引伸计也适用于破坏性材料测试期间的测量。
H.-D. Rudolph GmbH提供各种类型的光学引伸计：
