新品发布！kSAXRF在线X射线荧光膜厚测量仪
时间：2022-12-28 阅读：1653
近期我司推出最新产品，kSA XRF在线X射线荧光膜厚测量仪！对于膜层厚度太薄的金属薄膜和介电薄膜，光学方法测量其厚度显得不是很可靠。kSA XRF在线X射线荧光膜厚测量仪的推出主要就是为了解决该问题，它可以在线测量许多不同材料基底（例如：玻璃和太阳能电池组件）上的薄膜厚度。
1.配备保护性定制框架外壳，放置 X 射线源和探测器。
2.该设备桥接了传输线，以便于设备安装和工厂用户对系统的访问。
3.当 X 射线源正在使用时，会有警示灯闪烁提示。
4.配备面板的前/后边缘光电检测器，用于触发设备自动启停。
5.柜式控制器提供数据处理及存储功能。
6.配备小型灯塔用于指示检测情况。
1.某些超薄的介电薄膜，光学方法难以测量其厚度，如低于100nm厚度薄膜；在这种情况下，kSA XRF可以很好地测量。3.实时数据采集，检测薄膜厚度缺陷并进行在线反馈。5.检测过程中可对质量控制进行验证，以确保涂层厚度在公差范围内。6.工厂集成功能：使工厂用户能够将设备整合到现有系统（如：工厂警报、PLC、电子邮件警报等）中。7.操作便捷，几乎不需要额外设置，只需操作员定期进行设备校准。
1.该系统由一个带有高压发生器的 X 射线管和一个 X 射线探测器系统组成。2.其 X 射线检测系统组合了固态探测器、放大器、脉冲高度分析仪和多通道分析仪。3.光谱仪能量校准后，系统自动识别 X 射线光谱峰值，并收集峰值强度以进行进一步处理。4.该工具可根据客户的薄膜配方和测量需求测量对应的原子种类。
1.使用专有的 k-Space 软件测量，分析和存储数据。7.单个检测头可以放置在面板宽度上的任何位置，并且可选配使用多个检测头。8.厚度测量范围为 0~500 nm±1 nm，灵敏度和测量不确定度取决于被测元素。
