光学轴测量是一种非接触式、高精度的测量方法，其原理是通过光束的反射和折射来计算物体的位置、大小和形状等参数。以物体表面为参考平面，在光学轴上构建出光路系统。光路系统包括光源、透镜组、亚显微镜、检测器和数据处理装置等。其中，光源产生光线，透镜组主要用于成像和校正光线，亚显微镜用于调整光线的方向和位置，检测器用于接收并转换光线信号，数据处理装置用于记录和分析测量结果。

　　

　　在光学轴测量中，光线经过物体表面反射或折射后，被检测器接收并转化为电信号。由于物体表面的形状和相对位置不同，所反射或折射的光线路径也不同，因而产生了不同的电信号。通过对这些电信号进行处理，可以得到物体表面的大小、形状、位置等参数。

　　

　　测量广泛用于各种机械和电子制造工艺中，如高精度零部件的尺寸和形状测量、变形和应力分析、三维形状重建和数字化等。在汽车、航空航天、电子、医疗等领域，光学轴测量也得到了广泛的应用，例如汽车零件的生产、飞机发动机叶片的制造、电子设备的组装和检测、医学诊断中的眼部测量等。

　　

　　与传统的机械测量方法相比，光学轴测量有以下几个优点：

　　

　　（1）非接触式测量，不会对测量对象造成损伤，适用于高要求的行业和场合。

　　

　　（2）高精度测量，可以实现亚微米级别的测量精度，并且具备较高的重复性和稳定性。

　　

　　（3）快速测量，可以在很短的时间内完成测量，提高工作效率和生产效益。

　　

　　（4）可视化表达，可以通过三维图像和图形界面来展示测量结果，直观性强。

　　

　　在进行光学轴测量时，需要注意以下几个问题：

　　

　　（1）光路系统的构建和校准，需要保证光线的稳定性和精度。

　　

　　（2）测量对象表面要求光滑，不能有明显的划痕、氧化等。

　　

　　（3）测量环境要干净、无尘、无振动等，以保证测量精度。

　　

　　（4）对于硬度较高或表面反射性较强的材料，需要采取适当的处理方法。

　　

　　综上所述，光学轴测量原理是通过光线的反射和折射来计算物体的位置、大小和形状等参数。测量具有非接触式、高精度、快速测量和可视化表达等优点，在机械、电子制造、医疗等领域得到了广泛应用。在进行测量时需要注意光路系统的构建和校准、测量对象表面的光滑度、测量环境的卫生和硬度或反射性较强材料的处理等问题。