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SJ6000线性位移精度激光干涉测量仪集光、机、电、计算机等技术于一体,采用激光双纵模热稳频技术,可实现高精度、抗扰力强、长期稳定性好的激光频率输出。
SJ6000激光干涉仪具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、高测速下分辨率高等优点,结合不同的光学镜组,可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。
SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件,可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列,依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。
主要镜组图
其中,线性镜组为标配,由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析,以及反向间隙修正和螺距补偿。
线性测量(线性轴位置精度测量的简称)配置主要由SJ6000主机、EC20环境补偿单元、线性镜组、SJ6000静态测量软件等组件构成,可满足0~80m范围内的线性测量。其中,线性测量包括定位精度测量、重复定位精度测量和设备反向间隙测量等。
线性镜组可以针对不同方向的运动轴而搭建相应的测量光路,如下图:
水平轴的线性测量示意图
垂直轴的线性测量示意图
SJ6000静态测量软件可以将线性测量结果生成误差补偿表,该表涵盖了各个测量点的补偿值,运动控制系统制造商允许通过修改运动轴的补偿值来消除该运动轴的位置误差,精确的补偿,可以有效地降低运动轴的位置误差。
线性测量中目标位置的数据采集有基于位置的目标采集和基于时间的目标采集两种方式,普遍采用基于位置的目标采集方式,即:被测运动轴需设定若干个等距的定位点,当运动轴移动到设定的定位点时,需设置停留时间,以供SJ6000测量软件进行当前点的数据采集。
SJ6000线性位移精度激光干涉测量仪广泛应用于机床、三坐标、机器人、3D打印设备、自动化设备、线性位移平台、精密机械设备、精密检测仪器等领域的线性测量。
在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下,可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测,以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析,如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。
(1)可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量;
(2)可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等,以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等;
(3)可实现对机床回转轴的测量与校准;
(4)可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表,为设备误差修正提供依据;
(5)具有动态测量与分析功能,包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等,可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等;
(6)支持手动或自动进行环境补偿。
(1)友好的人机界面;
(2)丰富的应用功能模块;
(3)向导式的操作流程;
(4)简洁化的记录管理;
(5)支持中文、英文和俄文界面;
(6)支持企业专属模板定制。
稳频精度 | 0.05ppm |
动态采集频率 | 50 kHz |
预热时间 | ≤ 6分钟 |
工作温度范围 | (0~40)℃ |
存储温度范围 | (-20~70)℃ |
环境湿度 | (0~95)%RH |
线性测量距离 | (0~80)m (无需远距离线性附件) |
线性测量精度 | 0.5ppm (0~40)℃ |
角度轴向量程 | (0~15)m |
角度测量精度 | ±(0.02%R+0.1+0.024M)″ |
平面度轴向量程 | (0~15)m |
平面度测量精度 | ±(0.2%R+0.02M2)μm (R为显示值,单位:μm;M为测量距离,单位:m) |
直线度轴向量程 | 短距离(0.1~4.0)m;长距离(1.0~20.0)m |
直线度测量精度 | 短距离±(0.5+0.25%R+0.15M2) μm长距离±(5.0+2.5%R+0.015M2) μm |
垂直度轴向量程 | 短距离(0.1~3.0)m;长距离(1.0~15.0)m |
垂直度测量精度 | 短距离±(2.5+0.25%R+0.8M)μm/m;长距离±(2.5+2.5%R+0.08M)μm/m |
平面度测量配置需求:平面度镜组+角度镜组
平行度测量配置需求:依据轴向量程范围,选择相应直线度镜组即可
短垂直度测量(0.1~3.0)m配置需求:短直线度镜组+垂直度镜组
长垂直度测量(1.0~20.0)m配置需求:长直线度镜组+垂直度镜组
直线度附件:主要应用于Z轴的直线度测量和垂直度测量
恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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