光学3D表面轮廓仪测FA光纤端面粗糙度Sz参数

视频简介

针对光通信行业中光波导器件的光纤端面粗糙度的检测需求,SuperView系列光学3D表面轮廓仪基于白光干涉原理和纳米扫描系统,具备0.1nm的纵向分辨率和全透明表面干涉条纹成像的能力,能够轻松实现针对FA光纤端面粗糙度Sz参数的高精度、高重复性的一键式测量。

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